一、合肥老化房用途

　　合肥老化房是針對(duì)高性能電子產(chǎn)品仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測(cè)試的設(shè)備，是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要實(shí)驗(yàn)設(shè)備、是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競(jìng)爭(zhēng)性的重要生產(chǎn)流程，該設(shè)備廣泛應(yīng)用于電源電子、電腦、通訊、生物制藥、化工等領(lǐng)域。

　　二、合肥老化房符合設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)

　　GB10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

　　GB10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

　　GB10586-89 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件

　　GB11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

　　GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備

　　GB/T5170.5-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備

　　GB2423.22-87 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N：溫度變化試驗(yàn)方法

　　GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A: 低溫試驗(yàn)方法

　　GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B: 高溫試驗(yàn)方法

　　GB2423.3-91電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca: 恒定濕熱試驗(yàn)方法

　　GB2423.4-89電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Db: 交變濕熱試驗(yàn)方法

　　GB2424.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Db: 高低溫試驗(yàn)導(dǎo)則

　　三、價(jià)格與哪些因素有關(guān)系

　　1: 房間大小(房間大小決定風(fēng)機(jī)選型，風(fēng)機(jī)數(shù)量，風(fēng)管大小)

　　2：溫度范圍(溫度范圍不同選用材料不同)

　　3：需要老化的產(chǎn)品以及產(chǎn)品功率(產(chǎn)品的不同涉及到產(chǎn)品是否發(fā)熱，功率涉及到里面供電的配置)

　　4：溫度均勻度要求;

　　5：常做老化的溫度點(diǎn)和產(chǎn)品的總功率(涉及到排風(fēng)系統(tǒng)，排風(fēng)是根據(jù)房間大小溫度范圍和產(chǎn)品的功率來恒定在謀個(gè)溫度點(diǎn)，當(dāng)產(chǎn)品發(fā)熱過高的時(shí)候排風(fēng)機(jī)運(yùn)轉(zhuǎn)保證溫度控制在設(shè)定的溫度)