實(shí)際水浸法超聲波探傷時(shí)，雜波水平超標(biāo)現(xiàn)象時(shí)有發(fā)生，而此時(shí)金相組織和性能檢驗(yàn)卻合格。影響超聲波探傷雜波水平的因素較多，從探傷方法本身來說，探傷頻率、不同形狀工件探傷時(shí)探頭晶片尺寸以及工件表面粗糙度等都會(huì)影響探傷雜波水平。低頻探頭探傷時(shí)雜波水平一般較高頻探頭低，但探傷靈敏度也低，技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)一般對(duì)此進(jìn)行了嚴(yán)格規(guī)定。探頭晶片尺寸對(duì)圓形產(chǎn)品探傷時(shí)有影響，對(duì)平面型產(chǎn)品影響較小。

1、表面粗糙度對(duì)探傷雜波的影響
       表面狀態(tài)的差異導(dǎo)致雜波水平差別較大。究其原因，水浸法探傷時(shí)由于平探頭聲束經(jīng)水耦合進(jìn)入棒材表面時(shí)，邊緣擴(kuò)散聲束在棒材表面可能形成其它變形波,這些變形波在車刀痕（或粗糙度較差）處多次反射，在示波屏上形成了較高的雜波水平。此現(xiàn)象在表面狀態(tài)差的餅、環(huán)材探傷時(shí)也時(shí)有發(fā)生。

2 、探頭頻譜對(duì)雜波水平的影響
       普通水浸一般為窄帶頻譜，主頻范圍很窄，脈沖振動(dòng)次數(shù)較多（即寬脈沖），專門的窄脈沖水浸探頭為寬帶頻譜，脈沖振動(dòng)次數(shù)很少（即窄脈沖）。棒材水浸法試驗(yàn)時(shí)，采用普通水浸探頭和窄脈沖水浸探頭探測同一棒材時(shí)的全聲程雜波水平分別為Φ2.0mm-(0～2)dB和Φ2.0mm-(6～8)dB，半聲程雜波水平分別為Φ2.0mm-(6～8)dB和Φ2.0mm-12dB。結(jié)果發(fā)現(xiàn)標(biāo)稱頻率相同的兩種探頭，在探測同一試樣棒時(shí)產(chǎn)生的雜波水平不同。棒材探傷時(shí)，無論采用全聲程法還是半聲程法，窄脈沖水浸探頭雜波水平均比普通水浸探頭低5dB左右。

3 、顯微組織對(duì)雜波水平的影響
       材料組織對(duì)雜波水平的影響是顯而易見的。粗大不均勻的組織可引起超聲波的雜亂反射，這種反射以雜波形式反映在示波屏上。但是，在晶粒尺寸不超過評(píng)級(jí)要求的情況下，什么樣的組織致使探傷雜波水平偏高還有待于進(jìn)一步探究。

       通過對(duì)有關(guān)試樣解剖分析，對(duì)水浸探傷雜波產(chǎn)生的原因有了基本認(rèn)識(shí)，即產(chǎn)生雜波的原因除材料自身的組織影響較大外，材料表面粗糙度以及采用探頭的頻譜等對(duì)探傷雜波也有一定的影響。