引言 鋁（Al）是應(yīng)用領(lǐng)域廣泛的常用金 屬，如運(yùn)輸、建筑、電氣電子和消 費(fèi)型產(chǎn)品等。這種多樣化且普及性 的應(yīng)用歸功于 Al 的特性：重量 輕、強(qiáng)度高、耐腐蝕、無(wú)毒、高導(dǎo) 熱性和導(dǎo)電性，以及易于機(jī)加工、 成型和拉伸等。通過(guò)將 Al 與其它金屬結(jié)合制成鋁合金，可進(jìn)一步提高其多功能 性。此外，Al 容易循環(huán)利用，而不會(huì)影響其特性。 目前市場(chǎng)上有多種等級(jí)的Al可供使用，以適應(yīng)其多樣化和普及性的應(yīng)用。倫敦金 屬交易所（LME）列出了兩種常用鋁錠的規(guī)格：純度 99.5%和 99.7%1，每種規(guī) 格均指定了最多六種無(wú)機(jī)雜質(zhì)。由于電感耦合等離子光譜技術(shù)（ICP-OES）能夠 輕松處理高基質(zhì)樣品且操作簡(jiǎn)便，因而成為測(cè)定鋁中雜質(zhì)元素的選擇。

珀金埃爾默Avio® 200 ICP-OES是進(jìn)行此類檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室的 理想選擇。其光學(xué)設(shè)計(jì)提供出色的光通量，這對(duì)在較短的 分析時(shí)間內(nèi)要測(cè)量較低的濃度非常重要。2 Avio 200  ICP-OES使用電荷耦合檢測(cè)器（CCD），可同時(shí)提供背景 和分析物測(cè)量，這在進(jìn)行金屬基質(zhì)類樣品分析時(shí)非常重 要。3 本文使用 Avio 200 ICP-OES 測(cè)定 LMS 不同規(guī)格鋁錠中無(wú) 機(jī)雜質(zhì)元素含量。

實(shí)驗(yàn) 樣品制備  所有分析均在 1％的鋁溶液中進(jìn)行，以模擬金屬鋁樣品消 解稀釋液（5%的硝酸(V/V),稀釋 100 倍）。為確認(rèn)方法準(zhǔn) 確性，將待測(cè)元素按照表 1“高級(jí)原鋁特殊合同規(guī)則”中 設(shè)置的水平添加至 1％的鋁溶液中。在 1％的鋁溶液中以 0.5 ppm、2 ppm和 8 ppm的濃度制備校準(zhǔn)標(biāo)樣，以消除 基質(zhì)對(duì)等離子體的影響；將 5％的HNO3用作空白溶液。 鈧（Sc）作為內(nèi)標(biāo)物添加到所有標(biāo)準(zhǔn)品和樣品中。 儀器與裝置 按照表 2 和表 3 所示的儀器參數(shù)和元素測(cè)定波長(zhǎng)在 Avio 200 ICP-OES 上進(jìn)行檢測(cè)。使用儀器標(biāo)配的進(jìn)樣系統(tǒng)，炬 管位置為-3。所選波長(zhǎng)均無(wú)干擾，無(wú)需干擾校正，從而簡(jiǎn) 化測(cè)量。由于 Avio 200 具有較高的靈敏度，所有分析物 測(cè)量時(shí)讀取時(shí)間為 0.2 秒，一分鐘即可完成每個(gè)樣品分 析。此外，所有測(cè)量均在徑向觀測(cè)模式下進(jìn)行，以地減小基質(zhì)效應(yīng)。

結(jié)果與討論  為確定方法準(zhǔn)確性，按表 1 所示的規(guī)格對(duì) 1％的鋁溶液進(jìn) 行加標(biāo)并測(cè)量。如圖 1 所示，所有測(cè)試結(jié)果的回收率均在 5%以內(nèi)，從而證實(shí)該方法具有良好的準(zhǔn)確性。通過(guò)選擇 適當(dāng)?shù)牟ㄩL(zhǎng)和分析條件，1％的鋁基質(zhì)并不會(huì)抑制雜質(zhì)的 分析。

為評(píng)估方法穩(wěn)定性，在 4 小時(shí)內(nèi)測(cè)量 1％的鋁樣品溶液， 且兩樣品間沖洗一分鐘，并監(jiān)測(cè)內(nèi)標(biāo)信號(hào)以評(píng)估方法的穩(wěn) 定性。結(jié)果如圖 2 中所示，表明信號(hào)變化小于 4％，從而 證實(shí)在高基質(zhì)樣品測(cè)量時(shí) Avio ICP-OES 系統(tǒng)具有出色的 穩(wěn)定性。

結(jié)論  本文表明 Avio 200 ICP-OES 在進(jìn)行背景測(cè)量的同時(shí)，可 按照倫敦金屬交易所的規(guī)定準(zhǔn)確測(cè)定鋁錠中的雜質(zhì)。通過(guò) 極短的測(cè)量讀取時(shí)間和不足 1 分鐘的單個(gè)樣品檢測(cè)時(shí)間， 輕松完成滿足檢測(cè)限要求的檢測(cè)。方法在四個(gè)小時(shí)內(nèi)保持 穩(wěn)定（評(píng)估的最大時(shí)間）則歸因于為防止樣品于接口處沉 積而做的優(yōu)化設(shè)計(jì)。