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英國泰勒霍普森粗糙度儀Surtronic DUO實物信息

來源:篤摯儀器(上海)有限公司   2025年06月09日 17:19  

核心技術特性

1. 多元參數測量能力

支持測量20 + 項粗糙度參數,覆蓋輪廓參數(如:

幅度參數:算術平均偏差 Ra、輪廓最大高度 Rz(ISO 4287)/ Rt(ASME B46.1)、均方根偏差 Rq

功能參數:輪廓支承長度率 Rmr(c)、偏斜度 Rsk、陡峭度 Rku

原始輪廓參數:Pa、Pz(適用于精密加工表面分析)

等),可滿足從基礎質量控制到復雜表面功能特性評估的多樣化需求。

2. 高精度測量性能

分辨率:0.01μm(0.4μin),滿足微米級精密測量需求

量程范圍:粗糙度參數(Ra):0.01μm ~ 40μm

輪廓高度參數(Rz/Rt):0.1μm ~ 199μm

傳感器動態(tài)范圍:200μm(垂直方向)

計量級精度:示值誤差:≤±5% 讀數 + 0.1μm(符合 ISO 3274 標準)

重復性:≤±2% 測量值 + 噪聲水平

濾波與評定標準:標配高斯濾波(Gaussian Filter),支持 ISO 11562 標準的 λs/λc 波長分離,確保測量結果的國際兼容性。

3. 智能操作與數據管理

快速測量模式:單次測量周期≤5 秒,支持連續(xù)掃描與定點測量雙模式

人機工程設計:分體式結構(顯示控制單元與驅動單元可拆卸),通過滑軌鎖定機制實現靈活組合,適配深孔、凹槽等復雜幾何特征測量

藍牙 5.0 無線通信(傳輸距離≤1 米),避免線纜干擾,提升現場操作便利性

交互界面:2.8 英寸彩色 LCD 觸控屏,支持中英文雙語操作界面

三鍵式物理按鍵(電源 / 測量 / 菜單),兼容戴手套操作

數據存儲與輸出:內置存儲器可存儲≥500 組測量數據(含參數曲線)

支持 USB-C 接口數據導出,兼容 Surtronic Desktop 軟件進行報表生成與趨勢分析


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