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多功能原子力顯微鏡可在不同的操作模式下進(jìn)行工作

來源:杭州葛蘭帕科技有限公司   2025年06月04日 14:10  
  多功能原子力顯微鏡是一種精密的納米尺度表面分析儀器,廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、物理學(xué)、生命科學(xué)等領(lǐng)域。它能夠通過探針與樣品表面相互作用的方式,獲得樣品的高分辨率表面圖像,甚至可以對(duì)樣品的力學(xué)性能、電學(xué)性質(zhì)、磁學(xué)性質(zhì)等進(jìn)行測(cè)量。
 

 

  多功能原子力顯微鏡的功能特點(diǎn):
  1.高分辨率:AFM具有高的空間分辨率,能夠精確到納米級(jí)別,甚至分辨到原子級(jí)別的細(xì)節(jié)。在垂直方向上,AFM的分辨率可達(dá)到亞納米級(jí)。
  2.多模式操作:可在不同的操作模式下進(jìn)行工作,包括接觸模式、非接觸模式和躍遷模式等。不同的模式適用于不同的樣品和測(cè)量需求。
  -接觸模式:探針與樣品表面持續(xù)接觸,適用于硬度較大的樣品。
  -非接觸模式:探針與樣品表面之間保持一定距離,不直接接觸,適用于脆弱或易損壞的樣品。
  -躍遷模式:介于接觸模式和非接觸模式之間,適用于更為復(fù)雜的表面力學(xué)測(cè)試。
  3.多功能性:除了常規(guī)的表面形貌成像,AFM還能夠進(jìn)行各種力學(xué)、物理和化學(xué)性質(zhì)的測(cè)試。例如,AFM可以通過測(cè)量樣品表面的原子力顯微鏡力譜,分析樣品的彈性模量、硬度、粘附力等力學(xué)性能;通過測(cè)量電流響應(yīng),進(jìn)行局部電學(xué)性質(zhì)測(cè)量;甚至能夠?qū)崿F(xiàn)局部熱學(xué)測(cè)量等。
  4.樣品尺寸無關(guān)性:AFM可以對(duì)不同尺寸和形狀的樣品進(jìn)行觀察,從納米尺度的微小顆粒到較大的宏觀物體均可進(jìn)行分析。它不像電子顯微鏡那樣需要對(duì)樣品進(jìn)行特殊的處理或真空環(huán)境下工作,樣品幾乎可以在任何環(huán)境下被測(cè)試。
  多功能原子力顯微鏡的應(yīng)用領(lǐng)域:
  1.材料科學(xué):在材料科學(xué)中被廣泛應(yīng)用,用于研究材料的表面形貌、粗糙度、硬度、摩擦力等性能。例如,在納米材料的研究中,AFM可以幫助科學(xué)家觀察材料的表面特性,評(píng)估其性能和穩(wěn)定性。
  2.生命科學(xué):在生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域,可用于觀察細(xì)胞、DNA、蛋白質(zhì)等生物大分子的形態(tài)和結(jié)構(gòu)變化。通過力譜技術(shù),AFM還能夠分析細(xì)胞與分子之間的相互作用,如細(xì)胞的附著力、分子識(shí)別等過程。此外,AFM還被用于藥物傳遞、組織工程等方面的研究。
  3.半導(dǎo)體行業(yè):在半導(dǎo)體行業(yè)中,用于檢測(cè)微小結(jié)構(gòu)的表面質(zhì)量,如金屬薄膜的表面粗糙度、集成電路的微結(jié)構(gòu)等。這些精密的測(cè)量對(duì)于保證電子設(shè)備的質(zhì)量和性能至關(guān)重要。
  4.納米技術(shù):在納米技術(shù)中有著重要應(yīng)用,它不僅能夠直接觀察納米尺度的物體,還能夠進(jìn)行納米尺度的力學(xué)測(cè)量。在納米傳感器、納米材料等領(lǐng)域,AFM都發(fā)揮著關(guān)鍵作用。
  5.環(huán)境科學(xué):可用于環(huán)境樣品的分析,如水中微小顆粒、土壤中的細(xì)菌等。通過AFM的表面形貌成像和力學(xué)性能測(cè)量,研究人員能夠?qū)Νh(huán)境污染物、微生物等進(jìn)行詳細(xì)分析。

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