在半導(dǎo)體封裝領(lǐng)域，金絲鍵合工藝的質(zhì)量直接影響著芯片的可靠性和使用壽命。如何準(zhǔn)確評估鍵合強度？怎樣判斷鍵合界面的冶金結(jié)合質(zhì)量？破壞性檢測給出了最直接有效的解決方案。

作為鍵合質(zhì)量評估的"金標(biāo)準(zhǔn)"，破壞性檢測通過科學(xué)的力學(xué)測試方法，能夠：

? 精確量化鍵合強度

? 識別潛在失效模式

? 驗證工藝參數(shù)合理性

? 預(yù)測產(chǎn)品長期可靠性

科準(zhǔn)測控技術(shù)團隊深耕半導(dǎo)體檢測領(lǐng)域多年，在本文中將為您系統(tǒng)介紹破壞性檢測在金絲鍵合質(zhì)量評估中的應(yīng)用價值。我們采用推拉力測試機和標(biāo)準(zhǔn)化測試方法，對無氰/含氰電鍍金鍵合樣品進行全面檢測，為封裝工藝優(yōu)化提供數(shù)據(jù)支撐。

一、檢測原理

破壞性檢測通過施加外力使鍵合點發(fā)生斷裂，根據(jù)斷裂位置和所需拉力值來評估鍵合質(zhì)量。鍵合界面的冶金結(jié)合強度直接影響斷裂模式和拉力數(shù)值，因此破壞性測試能直觀反映鍵合工藝的可靠性。

二、檢測相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

依據(jù)MIL-STD-883 Method 2011.7進行鍵合拉力測試

參考JESD22-B116標(biāo)準(zhǔn)評估鍵合強度

合格標(biāo)準(zhǔn)：斷裂點必須位于金絲弧線部位（B、C或D點），禁止出現(xiàn)在焊球（A點）或楔形鍵合（E點）處

三、檢測設(shè)備

1、Alpha W260推拉力測試機

A、設(shè)備介紹

Alpha W260推拉力測試機是一款專為半導(dǎo)體封裝、電子組裝等領(lǐng)域設(shè)計的高精度測試設(shè)備。其主要特點包括：

高精度測量：配備24Bit超高分辨率數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，確保測試數(shù)據(jù)的高精度和高重復(fù)性。

多功能性：支持多種測試模式，包括晶片推力、金球推力、金線拉力等，適用于不同封裝形式的測試需求。

自動化操作：X、Y軸自動工作臺設(shè)計，操作簡便，測試效率高。

安全性：每個工位設(shè)有獨立安全高度和限速，防止誤操作損壞測試針頭。

這些特點使得Alpha W260成為COB封裝推拉力測試的理想選擇。

2、鉤針

3、常用工裝夾具

四、測試流程

步驟一、樣品制備

制備無氰電鍍金和含氰電鍍金測試樣品各40組

每組樣品采用不同鍵合參數(shù)（超聲功率、時間、壓力）

步驟二、拉力測試

使用Alpha W260測試機以0.5mm/s速度施加拉力

記錄每組樣品的最大拉力值和斷裂位置

每種參數(shù)組合測試20次取平均值

步驟三、失效模式分析

統(tǒng)計A點（焊球處）和E點（楔形鍵合處）失效比例

通過掃描電鏡觀察典型失效斷口形貌

步驟四、數(shù)據(jù)分析

計算不同參數(shù)組合下的平均拉力值

建立失效模式與工藝參數(shù)的對應(yīng)關(guān)系

步驟五、破壞性檢測結(jié)果分析

1、拉力測試數(shù)據(jù)

2、失效模式統(tǒng)計

無氰樣品A點失效率達35%

含氰樣品A點失效率僅15%

兩組樣品均未出現(xiàn)E點失效

3、斷口形貌分析

通過SEM觀察發(fā)現(xiàn)：

優(yōu)質(zhì)鍵合斷口呈現(xiàn)韌性斷裂特征

A點失效樣品顯示明顯的界面分離

含氰樣品斷口可見更多塑性變形痕跡

以上就是小編介紹的有關(guān)于金線鍵合性能檢測相關(guān)內(nèi)容了，希望可以給大家?guī)韼椭?！如果您還想了解更多關(guān)于電阻推力圖片、測試標(biāo)準(zhǔn)、測試方法和測試原理，推拉力測試機怎么使用視頻和圖解，使用步驟及注意事項、作業(yè)指導(dǎo)書，原理、怎么校準(zhǔn)和使用方法視頻，推拉力測試儀操作規(guī)范、使用方法和測試視頻 ，焊接強度測試儀使用方法和鍵合拉力測試儀等問題，歡迎您關(guān)注我們，也可以給我們私信和留言，【科準(zhǔn)測控】小編將持續(xù)為大家分享推拉力測試機在鋰電池電阻、晶圓、硅晶片、IC半導(dǎo)體、BGA元件焊點、ALMP封裝、微電子封裝、LED封裝、TO封裝等領(lǐng)域應(yīng)用中可能遇到的問題及解決方案。