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菲希爾X射線測(cè)厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XULM240儀器特點(diǎn)
用途廣泛的鍍層厚度測(cè)量
通過組合高壓和濾片，可精準(zhǔn)測(cè)量極薄（如50 nm Au）至較厚（如100 μm Sn）的鍍層，覆蓋多種厚度需求 。
高精度微聚焦技術(shù)
配備微聚焦X射線管，最小測(cè)量點(diǎn)可達(dá)100 μm，適用于微小結(jié)構(gòu)（如連接器、觸點(diǎn)）的精細(xì)檢測(cè) 。
高效計(jì)數(shù)率與穩(wěn)定性
比例計(jì)數(shù)器支持高達(dá)數(shù)千cps（每秒計(jì)數(shù)率），確?？焖贉y(cè)量和良好的重復(fù)精度，即使短時(shí)間測(cè)量也能保證結(jié)果可靠性 。
便捷的樣品放置設(shè)計(jì)
X射線源位于測(cè)量艙底部，射線方向從下至上，結(jié)合大容量C型開槽艙體，便于放置大尺寸或扁平樣品（如印刷線路板） 。
靈活的測(cè)量配置
支持手動(dòng)或自動(dòng)切換準(zhǔn)直器與濾片，適應(yīng)不同鍍層材料和結(jié)構(gòu)（如多層鍍層、同元素鍍種）
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