菲希爾納米壓痕儀FISCHERSCOPE HM2000特點(diǎn)

來源：無錫駿展儀器有限責(zé)任公司 2022年06月21日 12:15

菲希爾X射線測(cè)厚儀根據(jù)DIN EN ISO 14577-1 Annex A和ASTM E 2546確定材料參數(shù)

菲希爾X射線測(cè)厚儀確定粘彈性材料特性的動(dòng)態(tài)模式(動(dòng)態(tài)力學(xué)分析)

快速測(cè)量:30秒內(nèi)確定零點(diǎn)

即使對(duì)于暗表面，也僅需少許的樣品預(yù)處理準(zhǔn)備

菲希爾X射線測(cè)厚儀適用于測(cè)量塊體材料和厚度大于1μm的涂層, 測(cè)量載荷范圍0.1 – 2000 mN

熱穩(wěn)定性和抗振動(dòng):可以穩(wěn)定測(cè)量數(shù)小時(shí)而不受無外界因素影響

菲希爾X射線測(cè)厚儀可編程的全自動(dòng)化樣品臺(tái)，自動(dòng)測(cè)量多個(gè)測(cè)量點(diǎn)

菲希爾X射線測(cè)厚儀配有4倍至40倍物鏡的顯微鏡，以精確定位測(cè)量點(diǎn)

模塊化的設(shè)計(jì)可實(shí)現(xiàn)用戶特定配置或設(shè)備的未來升級(jí)

壓頭: 維氏壓頭、柏氏壓頭、硬質(zhì)金屬球型壓頭、努氏壓頭或其它定制壓頭

強(qiáng)大的WIN-HCU軟件，便于直觀地操作和測(cè)量評(píng)估

相關(guān)產(chǎn)品

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