WZPK-334S鎧裝鉑電阻在測量過程中會因為污染、 氧化、還原、物理條件、脆裂、照射等測量條件和環(huán)境限制而導致出現(xiàn)測量結果的不穩(wěn)定性。下面我們就來詳細了解一下：
玷污
玷污會影響熱電阻的塞貝克系數(shù)。熱電阻偶絲材料往往受到環(huán)境氣氛或保護管雜質(zhì)玷污，不同程度的玷污所產(chǎn)生的附加電勢也不同，這種附加電勢將改變原來的分度特性，這是造成熱電阻示值不穩(wěn)定的一個因素。
熱電極在高溫下?lián)]發(fā)
熱電阻的偶絲材料多數(shù)是合金材料.由于各組分材料的蒸氣壓不同，所以揮發(fā)的程度也不同，在高溫下使用一定時間后，合金成分比例就有所改變，這將導致熱電勢產(chǎn)生明顯變化。

WZPK-334S鎧裝鉑電阻氧化還原
許多熱電阻的不穩(wěn)定性是由于偶絲氧化造成的。銅-康銅、鐵康銅、鎳鉻鎳硅等都能發(fā)生氧化反應。如果熱電極是均勻氧化，影響可能小-些；若是具有擇優(yōu)氧化，則其影響是很嚴重的。
脆化
脆化是熱電阻報廢的普遍因素。熱電極由于玷污、晶粒生長以及發(fā)生氧化還原反應和長期在高溫下再結晶等因素，都是導致熱電極脆化的原因。
受外力作用
劇烈的彎曲或其他任何類型的加工硬化在熱電阻絲中形成的內(nèi)應力可能產(chǎn)生物理上的不均勻性，細心操作可以避免大部分由此引|起的不均勻性。裝配好的熱電阻經(jīng)過適當?shù)耐嘶鹨部稍谀撤N程度上減少這種不均勻性。