1.傳統(tǒng)四端測試法如下：

圖1

如圖 1 所示，現(xiàn)有的交流毫歐表測試端口都為四端配置，激勵電流 ic（流 向用粗箭頭標示）流經(jīng)同軸電纜 L1 的內(nèi)芯, 再流經(jīng)被測件，再經(jīng)過同軸電纜 L4 的內(nèi)芯層流回激勵源，其電流回路面積為 S1 與 S2 之和。同樣，采樣電流 is(流 向用細箭頭標示)流經(jīng)同軸電纜 L2 的內(nèi)芯，再由同軸電纜 L3 的內(nèi)芯流回采樣電 路，回路面積 S2。激勵回路和采樣回路的公共耦合面積為 S2。該測試方法優(yōu)點 是可以抵消測試線的電阻給測試帶來的影響，但其缺陷是：

 1、無法實現(xiàn)在較小的測試電流下實現(xiàn)較高的精度和測試穩(wěn)定性。

2、對磁場干擾的抑制能力差，特別是當測試電流小，測試線越長時，這種 干擾就越明顯。

 3、測試環(huán)路面積大，耦合電感和寄生電感量比較大，容易受干擾，特別是 在測試電流較小或測試線較長的條件下，測試精度不容易提高，而且容易受干擾。

2.獲得的二端對測試法：

圖2

與圖 1 比較，在同樣的測試線長度條件下，面積關(guān)系為 S1+S2>>S5;S1>>S5。 電流回路由 S1+S2 變成了 S5,大大減少了對外的耦合面積，能使流入被測電阻的 激勵電流損耗減到zui小。同時，采樣回路的面積也由原來的 S2 變成了 S5，大大 減小了接收回路面積，降低了耦合電感，使得外來噪聲干擾降至zui小。二端對測 試法還繼承了四端測試法的優(yōu)點，即測試線電阻對測試精度不產(chǎn)生影響。由于同 軸電纜 L1 和 L2 的屏蔽層接地，因此對電場干擾也有很好的屏蔽作用。

測試線實際連接

圖3

用戶私自整改測試線應(yīng)注意：

1.盡量在不改變二端對測試法結(jié)構(gòu)的情況下延長延長測試線。

2.如圖 3，測試線延長時盡量延長 a 段線，b 段線應(yīng)盡量保持短。延 長 a 段線不會給測試精度和穩(wěn)定性帶來影響。

3.在和系統(tǒng)配合時，應(yīng)將測試線和數(shù)據(jù)線、通訊線、隔離捆扎，以 防止相互之間耦合干擾。

4.如果是系統(tǒng)需要將測試端口擴展多路測試通道，并進行多路測試 時：a)通道切換位置應(yīng)放置于 a 段進行切換。

 圖4

b) PCB 板布線應(yīng)注意，由儀器面板引出的兩根屏蔽線，一根 為電流線，一根為采樣線。布線時應(yīng)盡量保證兩根采樣線 相靠近，回路面積盡量小，如圖 5（2 通道擴展）。

圖 5

5.  電源線、信號線回路也盡量保證回路面積小。對外界信號干擾也 小。