即使相同的漆膜測(cè)厚儀，不同的人或?qū)Σ煌N類、狀態(tài)基材上的相同漆膜測(cè)量出來的數(shù)據(jù)也可能會(huì)存在較大差別，這是因?yàn)闇y(cè)量人員因素、測(cè)量漆膜的基體材質(zhì)、厚度、表面狀況以及測(cè)量位置等造成的。

影響漆膜測(cè)厚儀測(cè)量精度的因素及有關(guān)說明：
a.基體金屬磁性：磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的），為了避免熱處理及冷加工因素的影響，應(yīng)使用與被測(cè)件基體金屬具有相同性質(zhì)的鐵基對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)，亦可用待涂覆金屬進(jìn)行校準(zhǔn)。
b.基體金屬厚度：每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見產(chǎn)品規(guī)格中的要求（≥0.5mm）。
c.邊緣效應(yīng)：本儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近被測(cè)件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。
d.曲率：被測(cè)件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總隨著曲率半徑的減少明顯地增大。
e.表面粗糙度：基底金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測(cè)量時(shí)，在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬鍍件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn)；或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶劑溶解除去覆蓋層后，在校對(duì)儀器的零點(diǎn)。
f.磁場(chǎng)：周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的磁場(chǎng)，會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性法測(cè)厚工作。
g.表面清潔度：測(cè)量前，應(yīng)清除表面上的任何附著物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕物質(zhì)等，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。

北京金泰教你如何使用漆膜測(cè)厚儀測(cè)量厚度：
1.在空中按開關(guān)鍵開機(jī)，LCD全屏顯示，然后聽到BI的一聲，本機(jī)進(jìn)入測(cè)量狀態(tài)，每次開機(jī)默認(rèn)為單次測(cè)量狀態(tài)。
2.將探頭輕壓到有涂層的金屬基底上，本機(jī)發(fā)出BI-BI兩聲，LCD上顯示被測(cè)涂層厚度值，同時(shí)LCD左上角顯示Fe字符。
3.按MODE鍵，可選擇測(cè)量方式，有單次測(cè)量、連續(xù)測(cè)量、差值測(cè)量三種測(cè)量方式可供選擇。
4.單次測(cè)量是指每次測(cè)量測(cè)一個(gè)數(shù)據(jù)。連續(xù)測(cè)量是指只要探頭不離開基底面，該機(jī)一直不斷的測(cè)量。差值測(cè)量是指本次測(cè)量和上一次測(cè)量的差值。
5.按UNIT鍵，可選擇測(cè)量單位，可選μm、㏕。
6.如果在鐵基上開機(jī)，LCD全屏顯示后，將顯示ERR，然后關(guān)機(jī)，表示開機(jī)方式不正確。
7.LCD背光：開機(jī)，LCD背光默認(rèn)亮，此時(shí)短按開關(guān)機(jī)鍵，可關(guān)背光和開背光。