制造過(guò)程所設(shè)計(jì)創(chuàng)造的產(chǎn)品只包含所需的組件。有時(shí)外物可能作為污染物出現(xiàn)在終的產(chǎn)品上，而這種意外的污染影響產(chǎn)品質(zhì)量,甚至導(dǎo)致產(chǎn)品不合格。調(diào)查需要確定污染是什么,來(lái)自哪里。紅外光譜法是主要的鑒別材料屬性的分析技術(shù)之一。如果污染物是足夠大,肉眼可見(jiàn)那么簡(jiǎn)單(宏觀)，則可以在樣品上直接進(jìn)行紅外測(cè)量。然而，在許多行業(yè)微小的污染物就會(huì)導(dǎo)致產(chǎn)品問(wèn)題，例如電子行業(yè)和聚合物行業(yè)。顯微紅外可以檢測(cè)、分析和鑒別小到幾微米的樣品，是解決這類(lèi)問(wèn)題的理想的工具。一系列顯微紅外測(cè)試模式(透射、鏡面反射和衰減全反射（ATR）)可以測(cè)量各種類(lèi)型污染物樣品的光譜。本應(yīng)用闡述了自動(dòng)顯微紅外SpotlightTM 200i 系統(tǒng)在成品樣品中檢測(cè)和測(cè)量不同類(lèi)型污染物的使用情況。
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