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低電阻數(shù)位電阻檢測(cè)計(jì)
適合用于低電阻器之自動(dòng)測(cè)定
日本ADEX電阻測(cè)試儀AX-1152D低電阻位電阻儀簡(jiǎn)介
閱讀：354 發(fā)布時(shí)間：2024-7-18
日本ADEX電阻測(cè)試儀AX-1152D低電阻位電阻儀
日本ADEX電阻測(cè)試儀AX-1152D低電阻位電阻儀
日本ADEX電阻測(cè)試儀AX-1152D低電阻位電阻儀
●適用于分流電阻器等超低電阻測(cè)定
●測(cè)定時(shí)除去熱電動(dòng)勢(shì)影響
●施加脈沖電流以減少測(cè)定端點(diǎn)磨耗
●與已設(shè)定基準(zhǔn)値之間已百分比表示測(cè)定値
:0.5mΩ～1kΩ/±50.00%[最小分辨率:50nΩ]
●GP-IB/RS-232C/Centronics輸出(OPTION)
●比較器結(jié)果可以集電極開路輸出、LD顯示及蜂鳴器表示
●搭載測(cè)定電流、電壓異常檢知回路
●可設(shè)定SHIFT輸出
簡(jiǎn)介
AX-1152D能以高速度、高精確度測(cè)定0.0000mΩ~1.5000kΩ之超低電阻(%測(cè)定:0.5mΩ~1kΩ/±50.00%)。特別是在測(cè)定低電阻時(shí)，可利用DOUBLE測(cè)定模式來(lái)去造成誤差主因之熱電動(dòng)勢(shì)，并且備有特殊自動(dòng)零點(diǎn)回路，使測(cè)定精確度更高、更加穩(wěn)定。
本檢測(cè)計(jì)除了以數(shù)字顯示測(cè)定時(shí)，同時(shí)進(jìn)行HI、GO、LO判定，并輸出其信號(hào)至外部，而且可切換測(cè)定速度，選擇AVERAGE/DOUBLE/SLOW/FAST等。
另外，搭載接觸檢知(CONTACT CHECK)回路以及測(cè)定電流、測(cè)定電壓異常檢知回路，進(jìn)一步加強(qiáng)測(cè)定的可靠度。可選配GP-IB/RS-232C/Centronics任一輸出功能。
配置
●GP-IB ●RS-232C ●Centronics輸出 ●Printer cable
※可選擇一種上述選配功能