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當(dāng)前位置:西凡儀器(深圳)有限公司>>貴金屬檢測(cè)儀>> XF-S8黃金純度檢測(cè)儀S8光譜測(cè)金儀測(cè)5個(gè)9金
參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)XF-S8
品 牌CFAN/西凡儀器
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地深圳市
更新時(shí)間:2025-06-12 16:12:51瀏覽次數(shù):60次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來(lái)自 化工儀器網(wǎng)西凡光譜測(cè)金儀A5SMC精準(zhǔn)分析黃金白銀
分析含量范圍 | 0.0010%~99.9999% | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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能量分辨率 | 125±5eV | 行業(yè)專(zhuān)用類(lèi)型 | 有色金屬 |
儀器種類(lèi) | 臺(tái)式/落地式 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 鋼鐵/金屬,綜合 |
元素分析范圍 | 鋁(13)~鈾(92) | 重復(fù)性 | 自定義 |
檢測(cè)精度 | ±0.001%(99999金) | 檢測(cè)樣品 | 貴金屬合金/鍍層/寶石/液體 |
探測(cè)器 | 美國(guó) AMPTEK定制Fast-SDD | 內(nèi)置工控電腦 | Intel i5十二核 |
XF-S8貴金屬檢測(cè)儀是西凡儀器針對(duì)貴金屬行業(yè)推出的一款專(zhuān)用檢測(cè)萬(wàn)足金的旗艦X射線熒光光譜儀,支持貴金屬成分檢測(cè)和液體濃度檢測(cè),可廣泛應(yīng)用于珠寶首飾工廠、實(shí)驗(yàn)室、檢測(cè)站和回收等行業(yè)和單位。該產(chǎn)品采用美國(guó)AMPTEK定制Fast-SDD探測(cè)器,內(nèi)置十二核工控電腦,采用X射線與可見(jiàn)光共焦點(diǎn)光路設(shè)計(jì)和全新的Smart FP算法。檢測(cè)速度快,測(cè)試穩(wěn)定性好、準(zhǔn)確性高,適用范圍廣。
產(chǎn)品特點(diǎn)
元素檢測(cè)范圍:鋁(13)~鈾(92)
可支持最多30個(gè)元素同時(shí)計(jì)算
鍍層報(bào)警、錸鎢檢測(cè)報(bào)警
可支持寶石人工/天然分析
分析范圍:
貴金屬:0.0010%~99.9999%
鍍層:0.001um~80um
液體:5mg/L~200g/L
檢測(cè)精度:
貴金屬:±0.001%(99999金)
鍍層:RSD≤1.5%
液體:RSD≤1.5%
檢測(cè)樣品:貴金屬合金/鍍層/寶石/液體
支持多點(diǎn)連續(xù)測(cè)試,測(cè)試效率高
三準(zhǔn)直器,多濾光片自動(dòng)切換
遵守ISO3497及ISO3497標(biāo)準(zhǔn)
支持連接天平采集重量數(shù)據(jù)以及獲取黃金實(shí)時(shí)牌價(jià)計(jì)算價(jià)格
支持自動(dòng)計(jì)算多結(jié)果的平均值和RSD
核心部件
探測(cè)器:美國(guó)AMPTEK定制Fast-SDD
面積:70mm2
分辨率:125±5eV
HEE重元素檢測(cè)增強(qiáng)技術(shù)
內(nèi)置工控電腦:Intel i5十二核
高壓電源:50KV/1mA數(shù)字高壓電源
X射線管:50KV/1mA
窗口材料:鈹
靶材:鎢
焦點(diǎn):Φ0.1mm
準(zhǔn)直器:Φ0.5mm/Φ1.0mm/Φ2.0mm
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