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深圳市矢量科學(xué)儀器有限公司

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微型輪廓儀(光學(xué)檢測(cè))

參  考  價(jià):面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào)ET200A型

品牌KOSAKA/小坂研究所

廠商性質(zhì)經(jīng)銷商

所在地日本

更新時(shí)間:2024-09-05 16:29:06瀏覽次數(shù):424次

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KOSAKA LAB ET 200A微型輪廓儀(光學(xué)檢測(cè))是株式會(huì)社小坂研究所的高精度微細(xì)形狀測(cè)定機(jī),基于Windows系統(tǒng),采用金剛石探針接觸測(cè)量,適用于多種材料表面形貌分析,如臺(tái)階、粗糙度等,配備多樣探針,操作直觀便捷,廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、光電等領(lǐng)域。

1. 樣品臺(tái)規(guī)格

樣品臺(tái)尺寸:Φ160mm

大工件尺寸:Φ200mm

大工件厚度:52mm

大工件重量:2kg

縱向調(diào)整范圍:2.5" (±5mm/160mm)

樣品臺(tái)材質(zhì):黑色硬質(zhì)鉛

手動(dòng)旋轉(zhuǎn):360°(手動(dòng)粗調(diào))、±5°(微調(diào),小約0.5°)

2. 傳感器參數(shù)

原理:光柵式傳感器

Z方向測(cè)定范圍:Max. 600μm

Z方向小分辨率(隨放大倍率變化):

x5,000倍時(shí):10nm ±300μm

x10,000倍時(shí):5nm ±160μm

x20,000倍時(shí):2.5nm ±80μm

x50,000倍時(shí):1nm ±32μm

x100,000倍時(shí):0.5nm ±16μm

x200,000倍時(shí):0.25nm ±8μm

x500,000倍時(shí):0.1nm ±3.2μm

x1,000,000倍時(shí):0.05nm ±1.6μm

x2,000,000倍時(shí):0.025nm ±0.8μm

測(cè)定力:10μN(yùn)~500μN(yùn)

觸針半徑:2μm 60° 鉆石針頭(另有多種可選)

驅(qū)動(dòng)方式:直流伺服

重復(fù)性:te = 0.2nm (1μm以下臺(tái)階時(shí))

3. X軸(基準(zhǔn)軸/測(cè)量軸)參數(shù)

移動(dòng)量(大行程):100mm (±50mm)

直線度:0.2μm/100mm (全量程),5nm/5mm (局部)

移動(dòng)速度:0.005~20mm/s

線性度(linear scale):X方向分辨率 0.1μm

位置重復(fù)誤差:±5nm

以下是詳細(xì)列出的機(jī)械臂參數(shù)和功能:

4. Z軸參數(shù)

移動(dòng)量:54mm

移動(dòng)速度:大2.0mm/S

檢出器自動(dòng)停止機(jī)能

5. Y軸參數(shù)(手動(dòng)定位用)

移動(dòng)量:25mm(±12.5mm)

6. 工作觀察參數(shù)

彩色1/3"CCD,配備x4物鏡倍率

綜合倍率:約320倍(使用19"顯示器時(shí))

視野范圍:1.2mm x 0.9mm

觀察方向:右側(cè)斜視

照明系統(tǒng):白色LED,支持軟件調(diào)整明暗度

7. 軟件功能簡(jiǎn)介

型號(hào):i-STAR31

可設(shè)定測(cè)量條件菜單、重復(fù)測(cè)量設(shè)定及解析菜單

支持設(shè)定下針坐標(biāo),實(shí)現(xiàn)定位后自動(dòng)測(cè)量及解析功能

配備低通濾波功能,有效過(guò)濾噪音及雜訊

具有返回測(cè)量起始點(diǎn)功能

顯示倍率范圍:垂直方向502,000,000倍,縱方向110,000倍

強(qiáng)大的解析功能,包括主要圖形、段差解析、粗糙度解析、內(nèi)應(yīng)力分析及多種段差解析選項(xiàng)

8. 其他參數(shù)

床臺(tái)材質(zhì):一體花崗巖

防振臺(tái)(選購(gòu)):提供落地型或桌上型選項(xiàng)

電源規(guī)格:AC220V±10%,50/60HZ,300VA本體外觀尺寸及重量:W500×D440×H610mm,重120kg,采用一體花崗巖低重心結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)(不含防振臺(tái))


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