菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE XDL210

德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE XDL典型應用領域

• 菲希爾X射線測厚儀XDL210/220/230/240測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍零件

• 防腐鍍層和裝飾性鍍層，如鎳/銅上的鉻

• 電鍍工業(yè)中電鍍液的分析

• 黃金、珠寶和鐘表工業(yè)

德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE XDL應用實例：

XDLM測量系統(tǒng)經(jīng)常用來測量接插件和觸點的各種底材上的Au/Ni，Au/PdNi/Ni，Ag/Ni或Sn/ Ni鍍層的厚度。通常功能區(qū)都是很小的結(jié)構(gòu)如或突起，測量這些區(qū)域必須使用很小的準直器或適合樣品形狀的準直器。例如測量橢圓形樣品時，就要使用開槽的準直器以獲得zui大的信號強度。

FISCHERSCOPE X-RAY XDL和XDLM系列與XUL和 XULM系列密切相關(guān)：兩者都使用相同的接收器， 準直器和濾片組合。配備了標準X射線管和固定準直器的XDL儀器非常適合大工件的測量。

無錫駿展儀器供應菲希爾XDLM型號的X射線源采用微聚焦管，可以測量細小的部件，對低輻射組分有較好的激勵作用。此外，XDLM配備了可自動切換的準直器和多種濾片可以靈活地為不同的測量應用創(chuàng)造激勵條件。