菲希爾熒光射線測(cè)厚儀

FISCHER 的臺(tái)式涂鍍層測(cè)厚儀使用 X 射線熒光法或多探頭的接觸式測(cè)量技術(shù)，能提供的性能和靈活性。由于運(yùn)用了各種測(cè)量技術(shù)，因此能夠?yàn)槿魏螠y(cè)量任務(wù)提供合適的解決方案。臺(tái)式儀器可以通過軟件和硬件接口輕松集成到生產(chǎn)和質(zhì)量管理系統(tǒng)中。

FISCHERSCOPE X-RAY XAN500一臺(tái)儀器，三種作業(yè)模式：XAN®500不只是一臺(tái)手持便攜式XRF設(shè)備，它還可以轉(zhuǎn)變?yōu)榕_(tái)式儀器或者整合到生產(chǎn)線中。

FISCHERSCOPE MMS PC2采用不同測(cè)量技術(shù)的模塊化系統(tǒng)：非常適用于與涂鍍層厚度測(cè)量和材料測(cè)試相關(guān)的各種需求。

COULOSCOPE CMS2臺(tái)式測(cè)厚儀，幾乎可測(cè)量金屬或非金屬底材上所有金屬鍍層（包括多鍍層）的厚度。

GOLDSCOPE系列X射線熒光儀器是專為分析黃金和其他貴金屬而設(shè)計(jì)的XAN用于快速、高效地測(cè)量鍍層厚度及材料成分分析的測(cè)量?jī)x器。XUL / XULM基于 X 射線熒光法的測(cè)試儀器，堅(jiān)固耐用，快速、高效地測(cè)量鍍層厚度，特別適合電鍍行業(yè)。

FISCHER菲希爾測(cè)厚儀功能強(qiáng)大：菲希爾X射線測(cè)厚儀XDL 系列儀器具有全面的配置方案，可手動(dòng)或自動(dòng)測(cè)試，是鍍層厚度測(cè)量與材料成分分析的理想之選。XDV-SDDFISCHERSCOPE® XDV-SDD專為滿足要求的鍍層厚度測(cè)量和材料分析而設(shè)計(jì)XDV-μFISCHER的XDV-μ型系列儀器，可用于測(cè)量電子或珠寶等行業(yè)中微小結(jié)構(gòu)的產(chǎn)品XUVX 射線熒光儀器，配有用于分析輕元素的真空測(cè)量室。XDL / XDLM / XDAL憑借電機(jī)驅(qū)動(dòng)（可選）與自上而下的測(cè)量方向，XDL® 系列測(cè)量?jī)x器能夠進(jìn)行自動(dòng)化的批量測(cè)試。提供 X 射線源、濾波器、準(zhǔn)直器以及探測(cè)器不同組合的多種型號(hào)，從而能夠根據(jù)不同的測(cè)量需求選擇*適合的 X 射線儀器。