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FISCHERSCOPE X-RAY XDLMPCB200/210，菲希爾無(wú)損測(cè)厚儀可用于檢測(cè)金鎳厚度，元素分析，涂層鍍層檢測(cè)，材料分析等。菲希爾X-RAY系列...

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM PCB 220，F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB 220 是專為測(cè)量印制電路板上鍍層厚度及...

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM231/232/237,無(wú)論是高精度鍍層厚度測(cè)量或是精確材料成分分析，F(xiàn)ISCHER眾多系列的X射線熒光光譜儀可以...

Fischerscope X-ray XDL 220，XDLM測(cè)量系統(tǒng)經(jīng)常用來(lái)測(cè)量接插件和觸點(diǎn)的各種底材上的Au/Ni，Au/PdNi/Ni，Ag/Ni或Sn/...

Fischerscope X-rayXDL210，F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY XDL 210比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率，這樣就可以進(jìn)行高精度測(cè)量。由于采...

FISCHERSCOPE GOLDSCOPE SD510 / 515，GOLDSCOPE SD 520 和 GOLDSCOPE SD 550 配備了數(shù)字脈沖處理...

Fischerscope X-RAY XAN250/252，高性能X射線熒光測(cè)量?jī)x，配有非常先進(jìn)的硅漂移探測(cè)器(SDD)，可快速、無(wú)損地進(jìn)行RoHS檢測(cè)、材料分...

FISCHERSCOPE X-RAY XULM240PCB，應(yīng)用電鍍層，例如鐵上的鋅或鐵上的鋅鎳，用于大批量生產(chǎn)的零件（螺母和螺栓）的腐蝕防護(hù)電鍍液中金屬含量的...

菲希爾鍍層測(cè)厚儀Fischer X射線,FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款入門級(jí)能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀，通常用于對(duì)珠寶...

菲希爾鍍層測(cè)厚儀X熒光射線儀器，由于運(yùn)用了各種測(cè)量技術(shù)，因此能夠?yàn)槿魏螠y(cè)量任務(wù)提供合適的解決方案。臺(tái)式儀器可以通過(guò)軟件和硬件接口輕松集成到生產(chǎn)和質(zhì)量管理系統(tǒng)中。

菲希爾X熒光射線鍍層測(cè)厚儀，取決于測(cè)量距離和孔徑大小，實(shí)際的量點(diǎn)大小與視頻。窗口中顯示的一致，小測(cè)量點(diǎn)大小：約為φ0.51mm

FISCHER X熒光射線測(cè)厚儀 菲希爾，手持式、臺(tái)式、在線： XAN500型X射線熒光儀器是菲希爾到目前為止功能最多樣化的設(shè)備。

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210/220/230/240菲希爾X射線測(cè)厚儀是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀。

XDAL237菲希爾X射線測(cè)厚儀，在設(shè)計(jì)上，F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY XDAL型儀器和XDLM型儀器相對(duì)應(yīng)。

FISCHERSCOPE X-RAY XAN，根據(jù)DIN ISO 3497和ASTM B 568標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行金屬和貴金屬分析，鍍層厚度測(cè)量和RoHS篩查的通用X射線...

FISCHERSCOPE X-RAY XAN菲希爾，根據(jù)DIN ISO 3497和ASTM B 568標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行金屬和貴金屬分析，鍍層厚度測(cè)量和RoHS篩查的通用...

菲希爾X熒光射線測(cè)厚儀Fischer，菲希爾X射線測(cè)厚儀比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率，這樣就可以進(jìn)行高精度測(cè)量。

Fischerscope XAN215鍍層測(cè)厚儀，F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款頗具性價(jià)比的入門級(jí)能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層...

菲希爾代理X熒光射線測(cè)厚儀，配備了可編程XY工作臺(tái)的版本的XDL系列儀器可用于自動(dòng)化系列測(cè)試。它可以很方便地掃描表面，這樣就可以檢查其均勻性。

X射線測(cè)厚儀，XUL儀器適合測(cè)量不同形狀的細(xì)小工件，如螺絲，螺釘或螺帽，連接器觸點(diǎn)及其它電子元器件。