泰勒霍普森粗糙度儀Surtronic S116產(chǎn)品簡介

泰勒霍普森粗糙度儀Surtronic S116測試參數(shù)：

Surtronic S116三個取樣長度：0.25mm、0.8mm、2.5mm

Surtronic S116二個濾波器：2CR、Gaussian

Surtronic S116評定長度：0.25mm - 12.5mm (0.01 in - 0.49 in)可選

大行程：17.5mm

測試速度：

測試速度：1mm/sec(0.04 in/sec)

回程速度：1.5mm/sec(0.06in/sec)

測試參數(shù)：

執(zhí)行標準：ISO 4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1, JIS0601, N31007

ISO標準可以測量12個參數(shù)： Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max

ASME標準可以測量11個參數(shù)：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda

JIS標準可以測量14個參數(shù)：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc

其他 ：R3z (Daimler Benz)

測試單位：um/uin