Fischer X熒光射線測厚儀浙江代理

產(chǎn)品用途

典型的應(yīng)用領(lǐng)域有:

●珠寶、貴金屬和牙科用合金分析

● 黃金制品和K金制品分析

● 鉑金制品和銀制品分析

● 銠制品分析

● 其他合金分析和鍍層厚度測量

● 多鍍層厚度測量

產(chǎn)品特點(diǎn)

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款入門級能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀，通常用于對珠寶、錢幣和貴金屬等進(jìn)行無損分析。它適合分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度，從元素氯（17）到鈾（92），可同時(shí)測定24種元素。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 儀器一樣，減少了校準(zhǔn)儀器所需的時(shí)間和精力。Si-PIN的*基本參數(shù)法，可以在沒有校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度。

技術(shù)參數(shù)

通用規(guī)格

設(shè)計(jì)用途

采用能量色散型X射線熒光光譜法（EDXRF），

用以分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度

元素范圍從元素氯（17）到鈾（92），可同時(shí)測定24種元素。

重復(fù)性測量金元素時(shí)≤1‰，測量時(shí)間60秒

形式設(shè)計(jì)臺(tái)式儀器，測量門向上開啟

測量方向由下往上

X射線源

X射線管帶鈹窗口的鎢靶射線管

高壓三檔：30KV，40KV，50KV

孔徑（準(zhǔn)直器）φ1mm；可選φ2mm

測量點(diǎn)尺寸當(dāng)測量距離MD=0mm時(shí)，測量點(diǎn)直徑=孔徑直徑+200μm

X射線探測

X射線探測器采用珀耳帖了法冷卻的Si-PIN接收器

能量分辨率

（Mn元素Kα半高寬）

≤180eV

測量距離0...10mm

通過DCM測量距離補(bǔ)償法，可在不同測量距離上不需要重新校準(zhǔn)就能進(jìn)行測量；對于特殊的應(yīng)用或者對測量精度要求較高的測量，可能需要進(jìn)行額外的校準(zhǔn)。

樣品定位

樣品放置手動(dòng)

視頻系統(tǒng)CCD彩色攝像頭，可沿著初級X射線光束方向，手動(dòng)焦距，對被測位置進(jìn)行監(jiān)控

十字線（帶有經(jīng)過校準(zhǔn)的刻度和測量點(diǎn)尺寸），可調(diào)節(jié)亮度的LED照明

圖像發(fā)達(dá)倍數(shù)40x~160x

工作臺(tái)

形式設(shè)計(jì)固定工作臺(tái)

樣品放置可用區(qū)域310x320mm

樣品允許重量

13KG

樣品允許高度90mm

電氣參數(shù)

電源要求AC 220V 50Hz

功耗120W（不包括計(jì)算機(jī)）

保護(hù)等級IP40

尺寸規(guī)格

外部尺寸（寬x深x高）403x588x365mm

重量大約45KG

環(huán)境要求

使用時(shí)溫度10℃~40℃

存儲(chǔ)或運(yùn)輸時(shí)溫度0℃~50℃

空氣相對濕度≤95%，無結(jié)露

計(jì)算單元

計(jì)算機(jī)

Windows®-PC

軟件標(biāo)準(zhǔn)：Fischer WinFTM®BASIC 包含PDM®功能

可選：Fischer WinFTM®

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)

CE合格標(biāo)準(zhǔn)

EN 61010

X射線標(biāo)準(zhǔn)DIN ISO 3497 和ASTM B 568

形式批準(zhǔn) 

符合德國“Deutsche Rontgenverordnung-RoV"法規(guī)的規(guī)定

Fischer X熒光射線測厚儀浙江代理