產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
產(chǎn)品介紹
天瑞儀器生產(chǎn)的Thick600鍍層合金分析儀價(jià)格是一款主要用于鍍層厚度分析的儀器,同時(shí)可以測(cè)試合金成分檢測(cè),關(guān)鍵部件元是進(jìn)口的,已通過(guò)了江蘇省科技廳的驗(yàn)收,目前已累計(jì)銷售貳萬(wàn)多臺(tái)。主要原因是在滿足客戶檢測(cè)需求的情況下,價(jià)格更優(yōu)惠,售后服務(wù)成本更低廉。
儀器軟件
分析軟件簡(jiǎn)介
功能介紹:快速地檢測(cè)金屬電鍍層的厚度
軟件界面簡(jiǎn)潔,操作方便,無(wú)需專業(yè)人士操作
軟件帶有標(biāo)樣校對(duì)功能,可以采用單標(biāo)樣和多標(biāo)樣,對(duì)無(wú)標(biāo)樣的測(cè)試結(jié)果進(jìn)行校對(duì),使得測(cè)試結(jié)果更接近實(shí)際值
無(wú)標(biāo)樣分析方法(FP法),測(cè)試不受標(biāo)準(zhǔn)樣品的限制
具有自動(dòng)定性分析功能,自動(dòng)元素識(shí)別功能,方便對(duì)樣品元素的識(shí)別和定性
具有疊加虛譜功能,方便作樣品的定性對(duì)比分析
測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)
1國(guó)標(biāo)GB/T 16921-2005/ISO 3497:2000
金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量X射線光譜方法
2.美國(guó)標(biāo)準(zhǔn)A754/A754M-08
Coating Weight(mass)of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence
鍍層厚度測(cè)試方法一般有以下幾種方法:
1 光學(xué)顯微鏡法。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T6462-2005
2 X-ray法(X射線法)。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T16921-2005
3 庫(kù)侖法,此法一般為仲裁方法。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T4955-2005
應(yīng)用范圍
金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定,RoHS檢測(cè)
鍍層合金分析儀價(jià)格用于彈簧、電子連接器、電子電器、螺栓和螺母、衛(wèi)浴、五金端子、螺絲、半導(dǎo)體封裝材料等產(chǎn)品ROHS及鍍層厚度測(cè)量。
儀器優(yōu)勢(shì)
1.性價(jià)比高——
采用進(jìn)口零部件,同時(shí)內(nèi)置天瑞自主研發(fā)的SNE(信噪比增強(qiáng)器)和MCA多道分析器,可以有效的提高儀器的計(jì)數(shù)率,在加快樣品測(cè)試速度的同時(shí)降低相鄰元素的譜線干擾。
2.移動(dòng)平臺(tái)精確度高;
3.*;
4.售后服務(wù)體系z(mì)ui完善,售后服務(wù)人員素質(zhì)高;
提供zui有效的技術(shù)服務(wù),在收到用戶信息后,4小時(shí)響應(yīng),如有必要,12-72小時(shí)內(nèi)派人上門(mén)維修和排除故障。
5.*授權(quán)具有“博士后工作站";
6.具有雄厚實(shí)力的研發(fā)團(tuán)隊(duì)——有數(shù)名“三清"博士人才;
7.擁有完善的“7S"管理;
8.*擁有自己的大廈,自己的工業(yè)園;
9.*的具有“分析測(cè)試實(shí)驗(yàn)室":對(duì)采購(gòu)我司儀器的客戶,提供免費(fèi)的檢測(cè)服務(wù);
10. 交貨周期zui短;
11. 國(guó)內(nèi)的X熒光制造商;
12. 擁有X熒光的所有核心技術(shù);
13. 政府機(jī)構(gòu)、檢測(cè)機(jī)構(gòu)中使用天瑞品牌的zui多;
14. 擁有發(fā)明等知識(shí)產(chǎn)權(quán)共43項(xiàng);
測(cè)試步驟
1.每天開(kāi)機(jī)預(yù)熱30分鐘后打開(kāi)測(cè)試軟件“FpThick":
用戶使用“Administrator",密碼:skyray
2.進(jìn)入測(cè)試軟件后,選擇“測(cè)試條件"
點(diǎn)擊“確定",即測(cè)試條件確定(儀器已設(shè)置好)
3.選擇“工作曲線"
如待測(cè)樣品是鐵鍍鎳,則選擇Ni-Fe;其他依次類推
4.放入“Ag片"對(duì)儀器進(jìn)行初始化
初始化完成后,(峰通道為1105,計(jì)數(shù)率達(dá)到一定的數(shù),如300以上)。
5.待測(cè)樣品測(cè)試
放入待測(cè)的樣品,通過(guò)攝像頭畫(huà)面觀察當(dāng)前放入的樣品的表面情況,以及儀器的X射線的聚焦點(diǎn)??梢酝ㄟ^(guò)軟件提供的十字坐標(biāo)(也稱十字光標(biāo))來(lái)定位該聚焦點(diǎn),將樣品放在聚焦點(diǎn)位置。點(diǎn)擊“開(kāi)始",輸入樣品名稱后“確定"。
6.測(cè)試完成后即可保持報(bào)告,報(bào)告的位置可以在桌面的“分析報(bào)告"快捷方式中的“鍍層報(bào)告"中找到。
注意:測(cè)試鍍層樣品時(shí),必須先要確定是什么鍍層、選擇好對(duì)應(yīng)的工作曲線測(cè)試。