ARL QUANT'X EDXRF 光譜儀更高效、更易于操作、 擁有更多的功能，致力于為各個(gè)應(yīng)用領(lǐng)域的制造商和研究人員提供先進(jìn)的儀器，幫助解決具有挑戰(zhàn)性的分析任務(wù)。

得益于客戶意見(jiàn)和專家建議，ARL QUANT'X EDXRF 光譜儀已經(jīng)發(fā)展成一整套完善的設(shè)備，其強(qiáng)大的設(shè)計(jì)包含經(jīng)驗(yàn) 證的硬件和全面的軟件，所有軟硬件都由預(yù)先安裝的應(yīng)用程 序或現(xiàn)場(chǎng)方法開(kāi)發(fā)應(yīng)用提供支持。同時(shí)，經(jīng)驗(yàn)豐富且及時(shí)響 應(yīng)的服務(wù)組織將確保儀器的正常運(yùn)行。借助賽默飛世爾科技 在數(shù)十個(gè) XRF 成功應(yīng)用中積累的豐富專業(yè)知識(shí)，分析人員 可以集中精力解決每一個(gè)分析挑戰(zhàn)。

建立在豐富成功經(jīng)驗(yàn)的基礎(chǔ)上 

ARL QUANT'X 久負(fù)盛名。自面世以來(lái)，ARL QUANT'X 采用多種新技術(shù)來(lái)推動(dòng)EDXRF性能提高及行業(yè)發(fā)展。ARL QUANT'X 很早推出了一臺(tái)Peltier電制冷Si(Li)探測(cè)器，該臺(tái)式EDXRF現(xiàn) 已發(fā)展成為一款多功能緊湊型高性能能譜。它的核心是新一代硅漂移探測(cè)器 (SDD)，耦合到快速 CMOS ASIC 前置放大器，兼具高計(jì)數(shù)率和高分辨率特性。較大的探測(cè)器晶 體區(qū)域可確保大的立體角，從而最大限度捕獲由樣品產(chǎn)生的 X 射線。 即使在分析小樣品或使用低至 1 mm 的準(zhǔn)直器面 罩時(shí)，50 瓦特的大功率 X 射線管也能實(shí)現(xiàn)有效激發(fā)。通過(guò)9 個(gè)濾光片組合，可以輕松找到最佳激發(fā)條件。ARL QUANT'X  支持在空氣、氦氣和真空中進(jìn)行分析，從而確保各類樣品（ 無(wú)論液體、松散粉末或固體）均可實(shí)現(xiàn)最佳輕元素分析。

增強(qiáng)型分析軟件 

WinTrace 分析軟件在 Windows 10 下運(yùn)行，基于多年完善的研究實(shí)踐和豐富經(jīng)驗(yàn)的先進(jìn)算法，讓 EDXRF 分析變得更加靈活。該軟件可針對(duì)任何樣品中任何數(shù)量的分析物 收集和處理多達(dá) 9 個(gè)濾光后的光譜。分析程序具有多種算法，可校準(zhǔn)所需任意數(shù)量的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)品（一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)品即能進(jìn) 行校準(zhǔn)）。收集光譜后，可隨時(shí)重新處理和脫機(jī)計(jì)算光譜。自 動(dòng)化 X 射線功率調(diào)節(jié)功能可保證所有樣品（無(wú)論是空氣濾 膜、礦渣、金屬、石油、巖石）都通過(guò)其設(shè)置進(jìn)行分析。

Versatile sample chamber  多功能樣品室 

批量分析樣品，提高生產(chǎn)效率，并通過(guò)大樣品室和多種送樣選配裝置擴(kuò)展EDXRF的分析通量。模塊化儀器設(shè)計(jì)允許在 應(yīng)用發(fā)生更改時(shí)輕松添加或刪除任何樣品處理選項(xiàng)。