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ICP-MS 分析中的低效時間陷阱及避免方法

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ICP-MS 工作流程中的時間陷阱

電感耦合等離子體質(zhì)譜 (ICP-MS) 是用于測量各種樣品類型 中痕量與常量元素的一項成熟技術(shù)。ICP-MS 廣泛應(yīng)用于食 品、農(nóng)業(yè)、環(huán)境、地球化學(xué)和地質(zhì)、材料和半導(dǎo)體、石化、 生命科學(xué)、臨床研究以及核能等行業(yè)。

ICP-MS 因其高靈敏度、基質(zhì)耐受性以及在較寬濃度范圍內(nèi)測量元素的能力而聞名。簡單的譜圖以及對干擾的可靠控制,使 ICP-MS 成為從飲用水和環(huán) 境監(jiān)測到食品安全和藥物生產(chǎn)的常規(guī)和受監(jiān)管應(yīng)用的首選技術(shù)。 

許多實驗室正試圖從其他原子光譜技術(shù)轉(zhuǎn)為 ICP-MS,或希望通過升級 ICP-MS  實現(xiàn)更低的檢測限和更高的樣品通量。不熟悉這項技術(shù)的實驗室可能會認(rèn)為 ICP-MS 難以掌握和使用,且操作和維護(hù)成本高昂。這些臆想出的困難甚至 可能使某些人不愿采用這項技術(shù)。

已經(jīng)使用 ICP-MS 的實驗室有時可能會在優(yōu)化方法和工作流程方面遇到困 難,但許多人認(rèn)為這是設(shè)置和運(yùn)行 ICP-MS 不可避免的問題。對于尚未優(yōu)化 ICP-MS 方法的實驗室而言,一些低效且不必要的事項(時間陷阱)會影響 分析效率和盈利能力。這些時間陷阱的代價不僅僅是浪費(fèi)時間。因手動方法 設(shè)置、儀器檢查以及不得不進(jìn)行重復(fù)分析而負(fù)擔(dān)過重的員工可能會對工作感 到不滿,且更容易出錯。錯誤會導(dǎo)致重復(fù)分析,影響樣品分析周期以及報告 結(jié)果的質(zhì)量,從而使實驗室的名譽(yù)受到威脅。


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