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[供應(yīng)]Vasco Kin-原位時(shí)間分辨納米粒度分析儀
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  • Vasco Kin-原位時(shí)間分辨納米粒度分析儀
貨物所在地：
上海上海市
更新時(shí)間：
2024-09-03 21:00:22
有效期：
2024年9月3日 -- 2025年3月3日
已獲點(diǎn)擊：
198
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

Vasco Kin原位時(shí)間分辨納米粒度分析儀
l 粒度測(cè)量范圍 : 0.5nm 到 10µm
l 背向動(dòng)態(tài)光散射原理，實(shí)時(shí)遠(yuǎn)程非接觸測(cè)量
l 監(jiān)測(cè)納米顆粒合成過(guò)程；監(jiān)測(cè)整個(gè)過(guò)程的粒度變化情況，有助于穩(wěn)定性研究
l 全自動(dòng)非接觸測(cè)量：能穿透玻璃和塑料針管，測(cè)定包裝物及反應(yīng)釜中的粒度分布和隨時(shí)間的變化

詳細(xì)介紹

Vasco Kin原位時(shí)間分辨納米粒度分析儀

l 粒度測(cè)量范圍 : 0.5nm 到 10µm

l 背向動(dòng)態(tài)光散射原理，實(shí)時(shí)遠(yuǎn)程非接觸測(cè)量

l 監(jiān)測(cè)納米顆粒合成過(guò)程；監(jiān)測(cè)整個(gè)過(guò)程的粒度變化情況，有助于穩(wěn)定性研究

l 全自動(dòng)非接觸測(cè)量：能穿透玻璃和塑料針管，測(cè)定包裝物及反應(yīng)釜中的粒度分布和隨時(shí)間的變化

l 適用樣品濃度：0.1ppm-40%（w/v）

l 時(shí)間分辨: DLS的分辨率為0.2s，用于動(dòng)力學(xué)監(jiān)測(cè)

l 隨時(shí)間變化的粒度分布彩色地形圖

l “時(shí)間切片"功能：用戶對(duì)測(cè)試后數(shù)據(jù)可進(jìn)行任意時(shí)間段內(nèi)的粒度分析

l 樣品前處理：無(wú)需樣品前處理，直接測(cè)試


原位時(shí)間分辨納米粒度分析儀



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