目錄:沈陽(yáng)科晶自動(dòng)化設(shè)備有限公司>>薄膜生長(zhǎng)設(shè)備>>薄膜生長(zhǎng)輔助設(shè)備>> M-3手持式四探針電阻率測(cè)試儀
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更新時(shí)間：2022-09-15 13:04:51瀏覽次數(shù)：2397評(píng)價(jià)
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| 價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
|---|---|---|---|
| 自動(dòng)化度 | 手動(dòng) |
操作視頻
產(chǎn)品型號(hào) | M-3手持式四探針電阻率測(cè)試儀 | ||||||
主要特點(diǎn) | 1、測(cè)試儀由M-3型主機(jī)和四探針探頭兩部分組成 2、手持式設(shè)計(jì),帶完善厚度、形狀修正功能,測(cè)試精準(zhǔn) 3、寬量程:超寬五個(gè)檔位,相當(dāng)于中檔臺(tái)式機(jī)的量程 4、操作簡(jiǎn)便、性能穩(wěn)定:輕觸數(shù)字化鍵盤(pán)實(shí)現(xiàn)參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換,LED數(shù)字表頭顯示 5、多款探頭可選,適用于各種不同材料的導(dǎo)電性能測(cè)試 | ||||||
技術(shù)參數(shù) | M-3手持式四探針電阻率測(cè)試儀1、工作電源 208-240V,50/60Hz;電池供電:DC3.7V 2、測(cè)量范圍、分辨率 電阻:0.010～50.00kΩ 分辨率:0.001～10 Ω 電阻率:0.010～20.00kΩ-cm 分辨率:0.001～10 Ω-cm 方塊電阻:0.050～100.00kΩ/m2 分辨率0.001～10Ω/m2 3、基本誤差:±1%FSB±2LSB 4、外形尺寸:210mm L × 100mm W × 36mm H 5、凈重:0.3kg | ||||||
可選配件 | 1探頭 根據(jù)不同材料特性需要,探頭可有多款選配 碳化鎢探針探頭(固體材料):測(cè)試硅等半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類(lèi)等硬質(zhì)材料(詳見(jiàn)圖1);球形或平頭鍍金銅合金探針探頭(薄膜):可測(cè)金屬箔、碳紙等導(dǎo)電薄膜,也可測(cè)陶瓷、玻璃或PE膜等基底上導(dǎo)電涂層膜,如金屬鍍膜、噴涂膜、ITO膜、電容卷積膜等材料的薄膜涂層(詳見(jiàn)圖2);探頭頭部安裝有平衡基座避免人手操作的誤差(詳見(jiàn)圖3)。
2、可選配快速恒壓四探針測(cè)試臺(tái),對(duì)測(cè)試壓力進(jìn)行調(diào)節(jié)保證恒壓測(cè)試,提高測(cè)試的精確度 |
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