目錄:沈陽科晶自動(dòng)化設(shè)備有限公司>>薄膜生長設(shè)備>>薄膜生長輔助設(shè)備>> TFMS-LD反射光譜薄膜測(cè)厚儀
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更新時(shí)間：2018-11-05 11:30:54瀏覽次數(shù)：1499評(píng)價(jià)
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| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
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TFMS-LD反射光譜薄膜測(cè)厚儀是一款利用反射光譜測(cè)試薄膜厚度的儀器，可快速精確地測(cè)量透明或半透明薄膜的厚度而不損傷樣品表面的薄膜，是一款無損測(cè)厚儀，其測(cè)量膜厚范圍為15nm-50um，測(cè)量膜厚范圍廣，尤其適用于超薄薄膜厚度的測(cè)量。儀器所發(fā)出測(cè)試光的波長范圍為400nm-1100nm，波長范圍廣，因此，測(cè)試薄膜厚度的范圍廣。TFMS-LD反射光譜薄膜測(cè)厚儀測(cè)試系統(tǒng)的理論基礎(chǔ)為鏡面光纖反射探頭，該儀器尺寸小巧可節(jié)省實(shí)驗(yàn)室空間，操作方便，讀數(shù)直觀，方便于在實(shí)驗(yàn)室中擺放和使用。
產(chǎn)品型號(hào) | TFMS-LD反射光譜薄膜測(cè)厚儀 |
測(cè)量膜厚范圍 | 15nm-50um |
光譜波長 | 400 nm - 1100 nm |
主要測(cè)量透明或半透明薄膜厚度 |
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特點(diǎn) |
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精度 | 0.01nm或0.01% |
準(zhǔn)確度 | 0.2%或1nm |
穩(wěn)定性 | 0.02nm或0.02% |
光斑尺寸 | 標(biāo)準(zhǔn)3mm,可以小至3um |
要求樣品大小 | 大于1mm |
分光儀/檢測(cè)器 | 400 - 1100 nm 波長范圍 光譜分辨率: < 1 nm 電源 100-250 VAC, 50/60 Hz 20W
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光源 | 5W的鎢鹵素?zé)?/span> 色溫：2800K 使用壽命:1000小時(shí) |
反射探針 | 光學(xué)纖維探針，400um纖維芯 配有分光儀和光源支架 |
載樣臺(tái) | 測(cè)量時(shí)用于放置測(cè)量的樣品
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通訊接口 | USB接口，方便與電腦對(duì)接
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TFCompanion軟件 | 強(qiáng)大的數(shù)據(jù)庫包含兩500多種材料的光學(xué)常數(shù)（n：折射率，K：消失系數(shù)）
誤差分析和模擬系統(tǒng)，保證在不同環(huán)境下對(duì)樣品測(cè)量的準(zhǔn)確性 可分析簡(jiǎn)單和復(fù)雜的膜系
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設(shè)備尺寸 | 200x250x100mm |
重量 | 4.5kg |
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
會(huì)員.png)
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