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產(chǎn)品簡介
XFlash 6-30布魯克 QUANTAX 能譜儀結(jié)合了出色的能量分辨率和 30 毫米更大的固體角度®活動區(qū)域芯片。這使得探測器對希望在EDS應(yīng)用的整個譜圖中使用探測器的分析中非常有吸引力，從輕元素分析到快速面掃描Mapping，以及EDS和EBSD測量的結(jié)合。XFlash 6-30 一定會提供快速的結(jié)果。
詳細介紹
布魯克 QUANTAX 能譜儀結(jié)合了出色的能量分辨率和 30 毫米更大的固體角度®活動區(qū)域芯片。這使得探測器對希望在EDS應(yīng)用的整個譜圖中使用探測器的分析中非常有吸引力，從輕元素分析到快速面掃描Mapping，以及EDS和EBSD測量的結(jié)合。XFlash6-30一定會提供快速的結(jié)果。
一：XFlash6-30具有以下優(yōu)點：
1.XFlash 6-30 出色的能量分辨率（Mn K® 的 123 eV，C K® 的 45 eV 和 F K+ 的 53 eV）®
2.其他可用分辨率為 Mn K® 的 126 eV和129 eV
3.*的脈沖處理能力
4.出色的輕元素和低能量X-ray分析性能（Be - Am 元素范圍）
5.空氣冷卻，不會因為其他冷卻系統(tǒng)而產(chǎn)生震動
6.電源打開后立即可用
7.運營成本低
8.免維護操作
9.小尺寸，包括 slim-line technology finger
10.重量低
二：布魯克 QUANTAX 能譜儀推薦應(yīng)用領(lǐng)域包括：
1.XFlash 6-30用于 SEM、microprobe、FIB-SEM 的 EDS 系統(tǒng)（焊接波紋管可作為選項使用）
2.將 EDS 和快速 EBSD 分析與eFlash FS 相結(jié)合
3.快速元素面掃描
