什么是X熒光光譜測(cè)金儀？XRF測(cè)金儀
隨著貴金屬價(jià)格的每日變化，測(cè)試中的微小誤差會(huì)嚴(yán)重影響您的利潤(rùn)。鍍金和偽劣物品只是珠寶商，黃金交易商和當(dāng)鋪所有者每天面臨的一些挑戰(zhàn)。企業(yè)需要準(zhǔn)確的結(jié)果來(lái)消除確定項(xiàng)目?jī)r(jià)值的可變性和主觀(guān)性，以確保交易可獲利。
X熒光光譜儀測(cè)金儀原理
X射線(xiàn)熒光光譜法（XRF）測(cè)金儀被普遍認(rèn)為是一種非常準(zhǔn)確的方法，它通過(guò)用高能光子（例如X射線(xiàn)或γ射線(xiàn)）照射樣品并觀(guān)察由此產(chǎn)生的X射線(xiàn)熒光來(lái)測(cè)量材料的原子組成。
通常，X射線(xiàn)熒光光譜儀由激發(fā)輻射源（X射線(xiàn)管或放射性同位素），檢測(cè)來(lái)自樣品的受激輻射的輻射檢測(cè)器以及光譜輸出顯示組成。
在X射線(xiàn)熒光光譜法中，該方法開(kāi)始于將樣品暴露于X射線(xiàn)或伽馬射線(xiàn)源。當(dāng)這些高能光子撞擊樣品時(shí)，它們傾向于將電子從構(gòu)成樣品的原子核周?chē)能壍乐袚舫觥０l(fā)生這種情況時(shí)，來(lái)自原子外軌道或“殼"的電子將落入缺失電子的殼中。由于外層電子比內(nèi)層電子更具能量電子，重新定位的電子具有多余的能量，這些能量被消耗為X射線(xiàn)熒光光子。這種熒光對(duì)于樣品的成分是的。檢測(cè)器收集該光譜并將其轉(zhuǎn)換為與樣品光譜中各種X射線(xiàn)能量成比例的電脈沖。由于每個(gè)元素都有不同且可識(shí)別的X射線(xiàn)特征，因此我們可以查看發(fā)射光譜的特定部分，并通過(guò)計(jì)數(shù)該扇區(qū)中的脈沖來(lái)確定樣品中所涉及元素的存在和濃度。
能量色散X射線(xiàn)熒光（EDXRF）依靠檢測(cè)器和檢測(cè)器電子設(shè)備解決X射線(xiàn)暴露在樣品上時(shí)產(chǎn)生的光譜峰。 XRF檢測(cè)器可以檢測(cè)到由曝光引起的不同能級(jí)，然后由功能強(qiáng)大的分析軟件對(duì)其進(jìn)行處理。因此得出最終黃金及其他金屬成分含量結(jié)果。
XRF優(yōu)勢(shì)和特點(diǎn)
準(zhǔn)確測(cè)定金和所有貴金屬（如銀，鉑，鈀，銠，銥和釕）的含量同時(shí)測(cè)量所有元素，而無(wú)需根據(jù)要分析的材料切換校準(zhǔn)
非破壞性貴金屬分析可保護(hù)貴重珠寶，古董和收藏品
精確確定其他微量合金元素（包括鉛）的存在和濃度
消除與酸測(cè)試方法相關(guān)的危害和不準(zhǔn)確性
利用我們的集成攝像頭和小點(diǎn)功能，利用電子測(cè)試來(lái)捕獲圖像并專(zhuān)注于小區(qū)域。
測(cè)試性能
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