CT440/440-PDL - 無源元器件測試儀

緊湊的測試儀，用于快速、準(zhǔn)確地鑒定無源光元器件

主要優(yōu)點

快速測量變化函數(shù)
波長范圍為1240-1680 nm（SMF型號）
PM和PDL選件
波長分辨率為1-250 pm
波長精度為±5 pm
單次掃描的動態(tài)范圍為65 dB
多可結(jié)合4個可調(diào)諧激光器（SMF型號）
配備四個內(nèi)部檢測器，可通過同步進(jìn)行擴(kuò)展

EXFO s緊湊型CT440讓您快速準(zhǔn)確地測試無源光學(xué)組件(如MUX/DEMUX，濾波器，分配器)和模塊(ROADM, WSS)。
更重要的是，該裝置覆蓋了從1240到1680 nm的光譜范圍，允許在整個電信波段進(jìn)行測量。
通過PDL選項，CT440可以同時測量插入損耗和偏振相關(guān)損耗。