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麥克比表面積測定儀TriStar II Plus

多用途/多通道/占地面積小

麥克比表面積測定儀TriStar II Plus是全自動化且含三個(gè)分析站的比表面積和孔隙度分析儀，具有出色的性能和分析速度。TriStar II Plus比表面積測定儀為用戶提供高通量和高質(zhì)量的數(shù)據(jù)。*的耐腐蝕的不銹鋼歧管，可確保結(jié)果可靠且可重復(fù)。

硬件和軟件特點(diǎn)

· *的耐腐蝕的不銹鋼歧管，設(shè)計(jì)用于高精度的氣體管理

· 改進(jìn)的杜瓦瓶設(shè)計(jì)，提供超出40h的連續(xù)溫度控制

· 直觀的MicroActive軟件使用戶能夠用交互方式分析等溫線數(shù)據(jù)，更快地獲得比表面與孔徑數(shù)據(jù)

· 用戶自定義報(bào)告選項(xiàng)允許直接建模

· 強(qiáng)大的Python腳本語言，允許用戶開發(fā)TriStar II Plus軟件標(biāo)準(zhǔn)報(bào)告庫擴(kuò)展程序

· 創(chuàng)新的儀器顯示屏，方便的儀器性能指標(biāo)和維護(hù)信息實(shí)時(shí)顯示功能

· 能夠在碳微孔分析中同時(shí)利用CO2與N2兩個(gè)等溫線通過NLDFT理論來計(jì)算全范圍孔徑

數(shù)據(jù)處理的優(yōu)勢

l 直接處理吸附數(shù)據(jù)。通過簡單的移動計(jì)算條，用戶立即更新文本屬性。一鍵式訪問重要的參數(shù)，讓用戶專注于結(jié)果，而不是參數(shù)

l 交互式數(shù)據(jù)處理大限度地減少使用對話框和達(dá)到計(jì)算參數(shù)的路徑。這使用戶準(zhǔn)確和有效地確定材料的比表面積和孔隙度

l 更強(qiáng)的能包含壓汞數(shù)據(jù)的文件添加疊加刪除功能（多25個(gè)）

l 用戶可選數(shù)據(jù)范圍，通過圖形化界面允許直接建BET、 t-plot，Langmuir、 DFT理論等模型

l 報(bào)告選項(xiàng)編輯，允許用戶自定義多達(dá)五份報(bào)告，可在屏幕上預(yù)覽

l 每個(gè)報(bào)表都有總結(jié)、表格和圖形信息項(xiàng)

低比表面積測量選項(xiàng)

氪氣選件可以將比表面積測量范圍擴(kuò)展至0.001m²/g。

TriStar II Plus比表面積測定儀表格和圖表報(bào)告：

l 單點(diǎn)或多點(diǎn)BET 比表面積

l 總孔體積

l Langmuir 比表面和等溫線

l t-Plot

l Harkins和Jura厚度層公式

l Halsey厚度層公式

l 碳黑STSA

l Broekhoff-de Boer

l Kruk-Jaroniec-Sayari

l BJH 吸附/脫附曲線

l 標(biāo)準(zhǔn)

l Kruk-Jaroniec-Sayari校正

l Dollimore-Heal吸附/脫附曲線

l 中孔

l 孔體積和面積分布

l MP-方法

l HK

l Saito-Foley

l Chang-Yang

l DFT孔徑

l DFT表面能

l 總結(jié)報(bào)告

l SPC報(bào)告

l 確認(rèn)報(bào)告