SpecMetrix® DFTQA 實驗室干膜厚度質量保證系統(tǒng)

SpecMetrix® DFTQA 系統(tǒng)為底漆和面漆干膜厚度涂層提供非接觸式、非破壞性和實時厚度測量。

由SpecMetrix提供，工業(yè)物理旗下專業(yè)的涂層測試品牌，致力于創(chuàng)新的涂層厚度測量。

SpecMetrix® DFTQA系統(tǒng)為干膜厚度提供了一個全新的非接觸、非破壞性和實時絕對測量數(shù)據標準。無論是底漆、面漆、透明或著色樣品，我們的DFTQA系統(tǒng)都能讓您獲得詳細的涂層測量數(shù)據和分析。

簡化質量控制流程

SpecMetrix® DFTQA系統(tǒng)專為簡化干膜厚度的質量控制流程而設計，它是我們在卷材涂層實驗室測量中推薦的工具之一，具有亞微米級精度。它利用我們的先進技術來改進涂層工藝和質量控制，同時減少質量控制實驗室或研發(fā)中心的成本。

DFTQA系統(tǒng)加速了離線樣品測試，受到多個行業(yè)和應用中質量控制實驗室的信賴。

多功能測量能力

SpecMetrix® DFTQA系統(tǒng)是用于干膜厚度分析的極其多功能的系統(tǒng)：

· 分析干涂層

· 清晰、有色或著色涂層

· 可測量底漆、底涂層、面漆、清漆、背涂層、層壓膜、透明涂層及其他卷材涂層（包括聚酯、環(huán)氧樹脂、紋理、金屬化和PVDF）

· 適用于任何金屬基材上的涂層，包括鋁、鋼、鍍錫、冷軋鍍鋁鋅鋼板，甚至任何油漆顏色上的涂層

· 廣泛應用 – 實時測量單層或雙層涂層，或離散層，精度達到亞微米級

· 雙重功能 – 單個系統(tǒng)配置包括兩個光學組件

高精度和可重復性

使用SpecMetrix® DFTQA，您可以對質量控制和質量保證數(shù)據更加有信心。其測量精度不受操作員技能或人為誤差的影響，使用戶能夠獲得更高的重復性和再現(xiàn)性。

完整的涂層洞察

憑借SpecMetrix精確和創(chuàng)新的ROI增強光學干涉技術，用戶可以通過非接觸和非破壞性手段獲得詳細的干膜厚度測量數(shù)據。

該技術極其精確，能為用戶提供其涂層的真實圖像。DFTQA系統(tǒng)允許用戶獲取整個樣品區(qū)域的準確涂層厚度和干膜厚度測量，而不是僅限于代表性較差的孤立測量點。

此外，單個系統(tǒng)配置可以包括雙重光學組件，使用戶能夠更快地測量底漆和面漆。我們的光學技術高度先進，并在涂層行業(yè)中廣泛應用。

強大的SensorMetric軟件

作為測量分析的核心部分，我們用戶友好的軟件包將所有測量數(shù)據存儲到Excel®中，或與工廠網絡接口，以便在生產運行期間或之后進行SPC分析。

此外，我們的軟件還包括一個配方助手，幫助操作員創(chuàng)建新的涂層配方并編輯現(xiàn)有的配方和配方方案。

功能和優(yōu)點

· 理想用于卷材涂層的干膜厚度測量和分析

· 非接觸且非破壞性 – 測量過程中不會損壞涂層或基材，保持樣品的完整性。

· 絕對厚度測量 – 提供樣品區(qū)域內精確的涂覆層厚度和干膜厚度（DFT）測量。無需針對不同顏色或基材進行重新校準。

· 基材獨立 – 可測量金屬基材上的涂層，包括鋁、鋼、鍍錫、冷軋鍍鋁鋅鋼板，甚至任何油漆顏色上的涂層。

· 廣泛應用 – 實時測量已應用的底漆、底涂層、面漆、清漆、背涂層、層壓膜、透明涂層及其他卷材涂層。

· 觸摸屏界面

· 優(yōu)秀的Gage R&R - 測量精度不受操作員技能或人為誤差的影響，確保系統(tǒng)的可重復性和再現(xiàn)性

· 環(huán)保 – 非破壞性測試方法有助于減少廢料、返工勞動力和能源成本。

· 雙重功能 – 單個系統(tǒng)配置包括雙重光學組件，使底漆和面漆測量速度更快。

· 強大的SensorMetric軟件 – 用戶友好的軟件包將所有數(shù)據存儲到Excel®中，或與工廠網絡接口以便進行SPC分析。

規(guī)格

應用： 光學測試, 油墨與涂料, 涂層檢測, 涂層測試

材料： 油墨和涂料

測量范圍:   0.7至350微米*（透明/清漆涂層），0.7至75微米*（著色/不透明涂層）* 取決于所選的光學組件

精度:   涂層厚度的±1%（標稱值）

測量速度:   每秒最多100次

溫度范圍:   0°至50°C

輸出指標:   微米、密耳、g/m²

操作系統(tǒng):   Windows®平臺

制造:   美國制造

認證:   CE認證、UL認證和CSA認證