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X射線檢測(cè)技術(shù)的特點(diǎn)和分類
X射線檢測(cè)作為無(wú)損檢測(cè)五大常規(guī)之一的射線檢測(cè)技術(shù)是當(dāng)下工業(yè)應(yīng)用廣泛的無(wú)損檢測(cè)技術(shù)，根據(jù)被檢工件的成分、密度、厚度的不同，與對(duì)射線不同吸收度或者散射度的特性，從而得到被檢工件的質(zhì)量、尺寸、特性的判斷。
一、射線檢測(cè)技術(shù)分類
目前，射線檢測(cè)技術(shù)大致可以分為：射線照相檢測(cè)技術(shù)、射線實(shí)時(shí)成像檢測(cè)技術(shù)、射線層析檢測(cè)技術(shù)以及其他。
二、射線檢測(cè)技術(shù)優(yōu)缺點(diǎn)
1.射線檢測(cè)技術(shù)優(yōu)點(diǎn)
?、俦粶y(cè)結(jié)果可以直觀顯示：探測(cè)器將檢測(cè)信號(hào)傳輸至電腦顯示屏實(shí)時(shí)顯示檢測(cè)結(jié)果；
?、跍y(cè)量結(jié)果可以長(zhǎng)期保存：檢測(cè)圖像可以實(shí)時(shí)的保存在電腦或U盤等存儲(chǔ)器上；
?、蹤z測(cè)結(jié)構(gòu)缺陷：對(duì)于一定空間分布的缺陷，或者具有一定厚度的缺陷，如焊縫氣泡、斷裂等缺陷的檢測(cè)；
2.射線檢測(cè)技術(shù)缺點(diǎn)：
?、贆z驗(yàn)成本較高；
②必須考慮安全防護(hù)。