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       半導(dǎo)體測試探針臺是一款適用于4-6英寸晶圓測試的基本型探針臺，結(jié)構(gòu)緊湊，配置豐富，可搭配中體式或視頻顯微鏡，實用且性價比高，非常適合高校、研究機構(gòu)、半導(dǎo)體工廠等實驗室的半導(dǎo)體測試應(yīng)用，模塊化結(jié)構(gòu)設(shè)計，支持后期靈活擴展升級。

產(chǎn)品特點

◆帶卡盤快速拖出機構(gòu)，方便晶圓上下片

◆卡盤可360°旋轉(zhuǎn)及小角度微調(diào)

◆采用雙臂萬向顯微鏡支架，可360°*旋轉(zhuǎn)或前后快速移動顯微鏡，方便快速定位任意針測位置

◆卡盤平移臺采用精密絲桿傳動結(jié)構(gòu)，無回程差設(shè)計，定位精準

◆全新表面處理針座平臺，摩擦力大，針座吸附更穩(wěn)定

◆卡盤可選鍍金卡盤、高溫卡盤、陶瓷卡盤、高透石英玻璃等

◆兼容連續(xù)變倍體視顯微鏡或視頻顯微鏡

◆臺面可個性化定制，滿足特殊測試需求

◆可集成光電流掃描成像或拉曼-瞬態(tài)熒光壽命成像系統(tǒng)

◆模塊化設(shè)計，方便后期功能擴展升級

應(yīng)用方向

晶圓/樣片/分立器件/晶體管/納米器件/功率器件測試；封裝器件/PCB板測試；LED/PD/LD光電材料/器件的測試、可靠性分析或失效分析；30微米以上電極/PAD測試；I/V、C/V、C/F、射頻S參數(shù)、有源測試、耐壓測試、ESD測試、混合參數(shù)測試等