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利用相控陣技術(shù)進行腐蝕檢測具有很多優(yōu)勢，其中包括較大的覆蓋范圍和出色的分辨率。但是，熟練掌握相控陣技術(shù)具有一定的挑戰(zhàn)性。OmniScan X3探傷儀通過精心設計的軟件和簡單流暢的菜單為用戶提供高級功能，從而可使用戶簡單輕松地獲得準確的數(shù)據(jù)。

• 儀器所提供的高級工具，如：全聚焦方式（TFM）圖像，可用于檢測腐蝕或其他一些較難探測到的損壞現(xiàn)象，如：高溫氫致缺陷（HTHA）和氫致裂紋（HIC）
• 只需極為簡單的設置，就可以使用一個多包含64個晶片的孔徑生成具有優(yōu)質(zhì)分辨率的 全聚焦方式（TFM）圖像
• 任何水平的操作人員在使用儀器時都會感到 得心應手
• 得益于簡化的菜單結(jié)構(gòu)和設置向?qū)В?nbsp;用戶可以更輕松地設置復雜的解決方案，如：與HydroFORM掃查器配套進行的檢測