德國布魯克DektakXT臺(tái)階儀（探針式表面輪廓儀）可以提供更高的重復(fù)性和分辨率，測(cè)量重復(fù)性可以到5?。臺(tái)階儀這項(xiàng)性能的到了過去四十年Dektak技術(shù)，更加鞏固了其行業(yè)。不論應(yīng)用于研發(fā)還是產(chǎn)品測(cè)量，通過在研究工作中的廣泛使用，DektakXT能夠做到功能更強(qiáng)大，操作更簡易，檢測(cè)過程和數(shù)據(jù)采集更完善。第十代DektakXT臺(tái)階儀（探針式表面輪廓儀）的技術(shù)，使納米尺度的表面輪廓測(cè)量成為可能，從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件，半導(dǎo)體，電池，高亮度發(fā)光二管的研發(fā)以及材料科學(xué)領(lǐng)域。

  臺(tái)階儀DektakXT能實(shí)現(xiàn)：

  1、 使用溫度條件：10-30℃；

  2、很好的性能，臺(tái)階高度重現(xiàn)性低于4埃

  3、Single-arch設(shè)計(jì)提供掃描穩(wěn)定性

  4、的“智能電子器件"設(shè)立了新低噪音基準(zhǔn)

  5、新硬件配置使數(shù)據(jù)采集時(shí)間縮短

  6、64-bit，Vision64同步數(shù)據(jù)處理軟件，使數(shù)據(jù)分析速度高了10倍

  7、頻率，操作簡易

  8、直觀的Vision64用戶界面，操作簡易

  9、針尖自動(dòng)校準(zhǔn)系統(tǒng)

  10、布魯克（Bruker）以實(shí)惠的配置實(shí)現(xiàn)高的性能

  11、單傳感器設(shè)計(jì)，提供單一平面上低作用和寬掃描范圍

     建立在40多年的探針輪廓技術(shù)的知識(shí)和經(jīng)驗(yàn)薄膜測(cè)試儀，在基于微處理器的輪廓儀，和300mm自動(dòng)輪廓儀DektakXT繼承了以往的。新的DektakXT是single-arch設(shè)計(jì)的探針輪廓儀，內(nèi)置真彩高清光學(xué)攝像機(jī)，及安裝64-bit并行處理架構(gòu)已獲得測(cè)量及操作效率的探針輪廓儀

當(dāng)需要臺(tái)階高度、表面粗糙度、測(cè)量時(shí)，人們就會(huì)借助Dektak。引進(jìn)DektakXT，Bruker能讓您進(jìn)一步獲得表面測(cè)量

數(shù)據(jù)采集和分析速度
 直接驅(qū)動(dòng)掃描平臺(tái)，Dektak XT減少了掃描間的時(shí)間，而沒有影響分辨率和背景噪聲。這一改進(jìn)大范圍掃描3D形貌或者對(duì)于表面應(yīng)力長程掃描（就探針輪廓儀而言，通常是耗時(shí)的）的掃描速度。在行業(yè)的質(zhì)量和重現(xiàn)性前提下，DektakXT可以將數(shù)據(jù)采集處理的速度。另外，DektakXT采用Bruker64-bit數(shù)據(jù)采集分析同步操作軟件Vision64，它可以大范圍3D形貌圖的高數(shù)據(jù)量處理速度，并且可以加快濾波器的工作速度和多模式掃描是的數(shù)據(jù)分析。Vision64還具有行業(yè)內(nèi)的直觀用戶界面，簡化了實(shí)驗(yàn)操作設(shè)置，自動(dòng)完成多掃描模式，讓重復(fù)和常規(guī)的實(shí)驗(yàn)操作變得更快速簡潔。