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SZ-100V2 系列-HORIBA 納米顆粒分析儀
  • SZ-100V2 系列-HORIBA 納米顆粒分析儀
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貨物所在地:江蘇蘇州市

更新時(shí)間:2025-03-11 21:00:45

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HORIBA 納米顆粒分析儀
納米技術(shù)的研發(fā)是一個(gè)持續(xù)不斷的過程,在分子和原子水平上控制物質(zhì)以獲得更新、更好、更先進(jìn)的材料和產(chǎn)品。
為了得到效率更高性能更好的產(chǎn)品,并減少能量的消耗。

HORIBA 納米顆粒分析儀

以先進(jìn)的技術(shù)簡單而*確地呈現(xiàn)納米粒子尺寸及分散體系的穩(wěn)定性,為您開啟納米科技前進(jìn)之門!

納米技術(shù)的研發(fā)是一個(gè)持續(xù)不斷的過程,在分子和原子水平上控制物質(zhì) 以獲得更新、更好、更先進(jìn)的材料和產(chǎn)品。 為了得到效率更高性能更好的產(chǎn)品,并減少能量的消耗,

簡單操作即可對(duì)納米顆粒進(jìn)行多參數(shù)分析!

粒徑測量范圍 0.3nm ~ 10μm

SZ-100V2系列采用動(dòng)態(tài)光散射原理(DLS)測量粒徑大小及分布,實(shí)現(xiàn)了超寬濃度范圍的樣品測量, 不論濃度是 ppm 級(jí)還是高達(dá)百分之幾十,均可準(zhǔn)確測量。可使用市售樣品池。測量微量樣品也極 為方便。

Zeta 電位測量范圍 −500 ~ +500mV

使用 HORIBA *創(chuàng)的微量樣品池,樣品量僅需 100 µL。通過 Zeta 電位值可以預(yù)測及控制分散體系的穩(wěn)定性。 Zeta 電位越高意味著分散體系越穩(wěn)定,對(duì)于配方研究工作意義重大。

分子測量范圍 1×103 ~ 2×107

通過測量不同濃度樣品的靜態(tài)散射強(qiáng)度并通過德拜記點(diǎn)法計(jì)算分子質(zhì)量 (Mw) 和第二維利系數(shù) (A2)。

SZ-100V2 系列超高的智能化和學(xué)習(xí)能力可以快速為您確定納米粒子的特性!

● SZ-100V2 系列可測量的樣品濃度范圍很廣,所以幾乎無需對(duì)樣品進(jìn)行稀釋和其他處理。*的雙光路系統(tǒng) (90°和 173° ) 設(shè)計(jì),既能對(duì)高濃度樣品進(jìn)行測量,如 釉漿和顏料,也能測量低濃度樣品,如蛋白質(zhì)和聚合物。

● 將表征納米粒子的三大參數(shù)的測量融于一體:粒子直徑、Zeta 電位和分子量。

● HORIBA 開發(fā)的一次性 Zeta 電位測量樣品池可杜絕樣品污染。超微量樣品池 ( 小容量 100 µL) 簡單易用,且適合分析稀釋的樣品。

● HORIBA 研發(fā)的 Zeta 電位石墨電極,可用于測量強(qiáng)腐蝕性的高鹽樣品。

 

HORIBA 納米顆粒分析儀

 

 

 

 

 

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