物鏡M Plan Apo NIR B 20× 378-867-5

 明視場用近紅外區(qū)校正 物鏡
M Plan Apo NIR B
VMU FS70

·無限遠(yuǎn)校正 ·明視場觀察及激光加工用
·長工作距離 ·平場復(fù)消色差規(guī)格
· 適用于YAG激光的基波、二次諧波的激光高透射率型產(chǎn)
品。對可見區(qū)420nm到近紅外區(qū)1064nm進(jìn)行了校正設(shè)計(jì)。
· 在維持NIR系列20×、50×的NA的基礎(chǔ)上，實(shí)現(xiàn)了25.5mm
的超長工作距離，大幅提高了可操作性 

 品 名貨號
數(shù)值孔徑
NA
工作距離
WD(mm)
焦距
f(mm)
分辨力
R(μm)
物鏡單體的焦深
±D.F.(μm)
實(shí)際視場(mm) 重量
ø24目鏡 1/2型相機(jī) (縱×橫) (g)
M Plan Apo NIR B
M Plan Apo NIR B 20× 378-867-5 0.40 25.5 10 0.7 1.7 1.2 0.24×0.32 350
M Plan Apo NIR B 50× 378-868-5 0.42 25.5 4 0.7 1.6 0.48 0.10×0.13 375
上述規(guī)格欄中的分辨力和物鏡單體焦深是根據(jù)基準(zhǔn)波長(λ＝0.55μm)計(jì)算得出的值。
注)使用的波長如果在1100nm以上，玻璃色散的變化和折射率等的測量可能會出現(xiàn)誤差，略微偏離可見光的聚焦位置

 遠(yuǎn)心光學(xué)系統(tǒng)
在圖像一側(cè)焦點(diǎn)位置上設(shè)置光闌，則主光線會與光軸平行。
在利用了這一原理的光學(xué)系統(tǒng)中，即使將焦點(diǎn)向光軸方向移
動，只是圖像會變得模糊，而圖像中心的大小不會改變。
測量投影儀和測量顯微鏡則是用通過在聚光鏡頭的焦點(diǎn)位置
放置光源來取代光闌，用平行光線照明，可以取得同樣的效
果。(參照下圖)

 物鏡M Plan Apo NIR B 20× 378-867-5

 透射照明：用透射光觀察測量物的照明方法。特別適用于
放大投影和測量輪廓部位的時(shí)候。
? 垂直反射照明：讓光垂直照射在測量物表面的照明方法。
用于觀測和測量表面形狀。
(同時(shí)使用半透鏡或內(nèi)置半透鏡式投影鏡頭)
? 斜向反射照明：使光斜向照射測量物表面的照明方法。圖
像的對比度得到強(qiáng)調(diào)，能夠更加立體而清晰地觀察。但是
需要注意的是在測量尺寸時(shí)容易產(chǎn)生偏差。
(與斜向反射鏡合用，PJ-H30系統(tǒng)主體標(biāo)準(zhǔn)配置)