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FEI “Q系列”掃描電子顯微鏡
對于失效分析、質量控制和材料表征而言、Q25是最經濟、高效的高分辨成像和分析應用的解決方案。在設計上側重易用性、Q25可以讓用戶迅速得到他們所需的數據。
為應對不導電樣品、Q25提供了低真空模式下的高性能、消除了對的樣品制備步驟或者附加的樣品鍍膜儀的需求。Q25樣品室的設計和真空系統(tǒng)能夠快速更換樣品、允許日常高效、快速檢測樣品。
為滿足客戶對大樣品或塊狀樣品的要求、Q45提供了更大的真空樣品室和100mm的樣品臺行程。另外、Q45加上了環(huán)境掃描（ESEM）模式、擴展了SEM的成像和分析功能到加熱、含水或放氣的樣品。
簡單易用，即使是新手利用直觀的軟件可實現(xiàn)高效操作。
利用穩(wěn)定的高束流（上至2 μA）電子束可以迅速獲得精確的分析結果。
快速輕松表征導電和非導電樣品
支持可選的分析功能。利用獨有的多級穿過透鏡的真空系統(tǒng)在高真空和低真空下使導電樣品和不導電樣品的精確EDS分析成為可能。
Q45 SEM: 采用為ESEM選配的帕爾貼冷臺可在樣品的自然含水狀態(tài)下完成樣品的動態(tài)原位分析。
FEI “Q系列”掃描電子顯微鏡
| 分辨率 | 加速 電壓 | 探針電流 樣品臺 | 放大率 | 試件室尺寸 | |
| Q25 SEM | High vacuum
Low vacuum
*optional | 200 V - 30 kV | up to 2 μA, continuously adjusted | 13 to 1000000x | 284 mm size left to right |
| Q45 SEM | High vacuum
High vacuum with beam deceleration option 7.0 nm at 3 kV(BD mode* + vCD*) Low vacuum
Extended vacuum mode (ESEM) *optional | 200 V - 30 kV | up to 2 μA, continuously adjusted | 6 to 1000000x | 284 mm size left to right |
