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柳沁低溫沖擊試驗(yàn)設(shè)備用途：
適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測(cè)試設(shè)備。本設(shè)備可實(shí)際溫度定值或程序控制，柳沁采用流行的制冷控制模式，可以0%~100%自動(dòng)調(diào)節(jié)壓縮機(jī)制冷功率，較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%。
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
柳沁低溫沖擊試驗(yàn)設(shè)備用途：
適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測(cè)試設(shè)備。本設(shè)備可實(shí)際溫度定值或程序控制，柳沁采用流行的制冷控制模式，可以0%~100%自動(dòng)調(diào)節(jié)壓縮機(jī)制冷功率，較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%。制冷及電控關(guān)鍵零配件均采用*，使柳沁品牌的半導(dǎo)體冷熱沖擊試驗(yàn)箱與半導(dǎo)體冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)的整體質(zhì)量和穩(wěn)定性得到了提升和保證。本公司還可以根據(jù)顧客的尺寸要求及溫度范圍定制。
滿足
GBT 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A 低溫
GBT 2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫
GBT 10592-1989高低溫試驗(yàn)箱 技術(shù)條件
柳沁低溫沖擊試驗(yàn)設(shè)備
技術(shù)參數(shù)：
可選擇的容積有如下：
50L內(nèi)箱尺寸為360x350x400(WxHxD)MM外尺寸以實(shí)物尺寸為準(zhǔn)
80L內(nèi)箱尺寸為500x400x400(WxHxD)MM外尺寸以實(shí)物尺寸為準(zhǔn)
150L內(nèi)箱尺寸為600x500x500(WxHxD)MM外尺寸以實(shí)物尺寸為準(zhǔn)
250L內(nèi)箱尺寸為700x600x600(WxHxD)MM外尺寸以實(shí)物尺寸為準(zhǔn)
512L內(nèi)箱尺寸為800x800x800(WxHxD)MM外尺寸以實(shí)物尺寸為準(zhǔn)
1000L內(nèi)箱尺寸為1000x1000x1000(WxHxD)MM外尺寸以實(shí)物尺寸為準(zhǔn)
溫度范圍：-40℃～+150℃、-55℃～+150℃、-65℃～+150℃
蓄熱箱溫度范圍：+50℃～+165℃
蓄冷箱溫度范圍：0℃ ～-75℃
試驗(yàn)箱均勻度：±2℃
設(shè)備波動(dòng)度：±0.5℃
溫度沖擊速率：3~5min完成
附屬功能:
預(yù)先設(shè)定試驗(yàn)開(kāi)始時(shí)間，試驗(yàn)箱自動(dòng)開(kāi)始起動(dòng)并準(zhǔn)備開(kāi)始試驗(yàn)。
進(jìn)氣口在環(huán)境溫度曝露時(shí)吸進(jìn)外面的空氣。
排氣口從機(jī)械室和試驗(yàn)區(qū)排出熱氣定時(shí)預(yù)定功能。
曝露時(shí)間縮短功能。
試驗(yàn)區(qū)的下風(fēng)溫度達(dá)到曝露溫度后轉(zhuǎn)換到下一個(gè)曝露的功能。
前處理/后處理功能。
在循環(huán)試驗(yàn)開(kāi)始前或結(jié)束后，試樣被曝露在高溫環(huán)境中（熱處理）維持一定時(shí)間。
干燥運(yùn)轉(zhuǎn)功能。
試驗(yàn)結(jié)件下運(yùn)轉(zhuǎn)一定的時(shí)間。
不同溫段沖擊：由多級(jí)蒸發(fā)器結(jié)構(gòu)相應(yīng)切斷，控制蒸發(fā)面積與制冷量膨脹閥匹配，使用制冷系統(tǒng)輸出合理減少加熱器中和的輸出量，達(dá)到恒定節(jié)能；另有獨(dú)立的換氣閥門(mén)，在排氣（常溫恢復(fù)）時(shí)動(dòng)作引入環(huán)境空氣。
