里氏硬度計(jì)HL210
產(chǎn)品介紹:
硬度計(jì)HL210，是一種以里氏硬度試驗(yàn)為理論依據(jù)，結(jié)合*的電子技術(shù)研制而成，用于測(cè)定金屬材料硬度的計(jì)量檢測(cè)儀器，可用于硬度范圍很寬的金屬材料試驗(yàn)，特別適用于測(cè)定大型的、重型的、不宜拆卸的、空間狹小的、不同方向的及特殊部位的工件硬度。

里氏硬度計(jì)HL210 

產(chǎn)品介紹:

       里氏硬度計(jì)HL210，是一種以里氏硬度試驗(yàn)為理論依據(jù)，結(jié)合*的電子技術(shù)研制而成，用于測(cè)定金屬材料硬度的計(jì)量檢測(cè)儀器，可用于硬度范圍很寬的金屬材料試驗(yàn)，特別適用于測(cè)定大型的、重型的、不宜拆卸的、空間狹小的、不同方向的及特殊部位的工件硬度。本儀器數(shù)字顯示硬度值，體積小、重量輕、測(cè)試簡(jiǎn)單，具有攜帶方便、檢驗(yàn)效率高、對(duì)試驗(yàn)表面損傷輕微等優(yōu)點(diǎn)。本儀器可在保證產(chǎn)品質(zhì)量，進(jìn)行金屬材料失效分析等方面發(fā)揮重要作用。它的基本原理是具有一定質(zhì)量的沖擊體在一定的試驗(yàn)力作用下沖擊試樣表面，測(cè)量沖擊體距試樣表面1mm處的沖擊速度與回跳速度，利用電磁原理，感應(yīng)與速度成正比的電壓。經(jīng)計(jì)算處理后顯示硬度值。

 

產(chǎn)品特點(diǎn)：

• 采用128×64圖形點(diǎn)陣液晶顯示器，信息豐富。

• 全中文顯示，菜單式操作，操作簡(jiǎn)單方便。

• 帶有USB接口，多種通訊方式適應(yīng)不同用戶的個(gè)性需求。

• 一臺(tái)主機(jī)可配備7種不同沖擊裝置使用，更換時(shí)不需重新校準(zhǔn)，自動(dòng)識(shí)別沖擊裝置類型。

• 可存儲(chǔ)373～2688組（沖擊次數(shù)32～1）單次測(cè)量值、平均值、測(cè)量日期、沖擊方向、次數(shù)、材料、硬度制等信息。

• 可預(yù)先設(shè)置硬度值上、下限，超出范圍自動(dòng)報(bào)警，方便用戶批量測(cè)試的需要。

• 白色背光顯示，方便在暗環(huán)境使用。

• 液晶上有充電過(guò)程指示，操作者可隨時(shí)了解充電程度。

• 具有示值軟件校準(zhǔn)功能。

• 支持“鍛鋼（Steel）”材料，當(dāng)用D/DC型沖擊裝置測(cè)試“鍛鋼”試樣時(shí)，可直接讀取HB值，省去了人工查表的麻煩。

• 打印機(jī)與主機(jī)集成一體設(shè)計(jì)，可打印任意份數(shù)的測(cè)量結(jié)果。

• 內(nèi)置大容量鋰離子充電電池及充電控制電路，超長(zhǎng)的工作時(shí)間。

• 根據(jù)用戶要求，可配備微機(jī)軟件，功能更加強(qiáng)大，滿足質(zhì)量保證活動(dòng)和管理的更高要求。

 

測(cè)試原理：

       隨著單片技術(shù)的發(fā)展，1978年，瑞士人Leeb博士*提出了一種全新的測(cè)硬方法，它的基本原理是具有一定質(zhì)量的沖擊體在一定的試驗(yàn)力作用下沖擊試樣表面，測(cè)量沖擊體距試樣表面1mm處的沖擊速度與回跳速度，利用電磁原理，感應(yīng)與速度成正比的電壓。里氏硬度值以沖擊體回跳速度與沖擊速度之比來(lái)表示。

計(jì)算公式:HL=1000*(VB/VA)

式中:HL--里氏硬度值

VB--沖擊體回跳速度

VA--沖擊體沖擊速度

 

測(cè)試步驟：

 

(1)將被檢測(cè)物體應(yīng)平放于地面，必須保證平穩(wěn)，不得有任何晃動(dòng)，被檢測(cè)位置不得有懸空狀態(tài)，必要時(shí)需加支撐塊;

(2) 打開(kāi)硬度計(jì)→物體的材料設(shè)置→硬度值設(shè)置(HRCHRBHB)→硬度檢測(cè)方向設(shè)置→開(kāi)始硬度檢測(cè);

(3) 將沖擊裝置壓緊在被測(cè)表面并向下按一下，1s后再按硬度計(jì)上面凸出的小圓柱，硬度值就會(huì)自動(dòng)顯示出來(lái)，在這過(guò)程中操作人員必須將沖擊裝置放穩(wěn)，方向也應(yīng)與被測(cè)面保持垂直狀態(tài);

(4) 每個(gè)檢測(cè)部位應(yīng)至少測(cè)試3個(gè)點(diǎn)，兩測(cè)試點(diǎn)之間距離應(yīng)≥3mm，測(cè)試完后取平均值做為該部位度，并記錄，然后進(jìn)入下一個(gè)部位檢測(cè);

(5) 測(cè)試結(jié)果與物體的要求進(jìn)行比較，達(dá)到要求為合格，轉(zhuǎn)入下一道工序;不合格則轉(zhuǎn)入隔離區(qū)，記錄檢測(cè)結(jié)果;

 

使用要求：

在現(xiàn)場(chǎng)工作中，經(jīng)常遇到曲面試件，各種曲面對(duì)硬度測(cè)試結(jié)果影響不同，在正確操作的情況下，沖擊落在試件表面瞬間的位置與平面試件相同，故通用支撐環(huán)即可。但當(dāng)曲率小到一定尺寸時(shí)，由于平面條件的變形的彈性狀態(tài)相差顯著會(huì)使沖擊體回彈速度偏低，從而使里氏硬度示值偏低。因此對(duì)試樣，建議測(cè)量時(shí)使用小支撐環(huán)。對(duì)于曲率半徑更小的試樣，建議選用異型支撐環(huán)。

一、對(duì)被測(cè)試件的一般要求試件表面應(yīng)潔凈，無(wú)灰塵，無(wú)油污和無(wú)氧化皮。

二、對(duì)試件表面溫度的要求試件表面的溫度不能過(guò)熱，要求溫度小于120℃。測(cè)試溫度為4℃-38℃。

三、對(duì)試件表面粗糙度的要求試件表面粗糙度應(yīng)滿足下表的要求，試件表面的粗糙度不但影響測(cè)試精度，而且影響沖擊球頭的使用壽命。

四、對(duì)試件重量的要求

1、對(duì)足夠重的試件不需要支撐，直接進(jìn)行測(cè)試。

2、對(duì)重量不太重的試件，有懸伸部分的試件以及薄壁試件，在測(cè)試時(shí)應(yīng)使用物體支撐，以避免沖擊力引起試件的扭曲、變形和移動(dòng)。

3、對(duì)重量較小的試件，應(yīng)使其與重量大與5kg的支撐體牢牢耦合，要求試件與支撐體表面必須平整、光滑，耦合劑(凡士林，機(jī)油等)用量不宜過(guò)多，測(cè)試方向必須垂直于耦合平面。

五、對(duì)試件表面硬化層厚度的要求對(duì)于表面覆有硬化層的試件，為保證測(cè)試精度，要求對(duì)應(yīng)于不同的沖擊裝置試件表面硬化層厚度應(yīng)符合規(guī)定:

六、對(duì)板材、管壁型試件厚度的要求對(duì)于板材、管材和其它薄片型試件的測(cè)試，為保證測(cè)試精度，要求對(duì)應(yīng)于不同的沖擊裝置試件厚度應(yīng)符合要求

七、對(duì)曲口試件保證測(cè)試精度的要求使用D型沖擊裝置，要求試件曲面半徑大于30mm;使用G型沖擊裝置，要求試件曲面半徑大于50mm。對(duì)不滿足上述要求的球面、柱面和凹面等曲口試件，為保證測(cè)試精度，應(yīng)采用異型支撐環(huán)(選購(gòu)件)。

八、對(duì)試件表面無(wú)磁性的要求試件表面不能帶有磁性，帶有磁性的試件將影響測(cè)試精度。要求試件剩磁應(yīng)小于4G。

九、對(duì)試件無(wú)振動(dòng)的要求測(cè)試時(shí)，試件所處的四周環(huán)境不應(yīng)有振動(dòng)，否則會(huì)影響測(cè)試結(jié)果。

 

技術(shù)參數(shù)：

• 測(cè)量范圍：HLD（170～960）HLD

• 測(cè)量方向：360°

• 硬度制：里氏、布氏、洛氏B、洛氏C、洛氏A、維氏、肖氏

• 顯示：LCD,128×64圖形點(diǎn)陣液晶

• 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)：373～2688組（沖擊次數(shù)32～1）

• 上下限設(shè)置范圍：同測(cè)量范圍

• 工作電壓：8.2V

• 充電時(shí)間：3～5小時(shí)

• 充電電源：9V/1000mA

• 持續(xù)工作時(shí)間：約500小時(shí)（不開(kāi)背光時(shí)）

• 通訊接口標(biāo)準(zhǔn)：USB

   

測(cè)量范圍：

標(biāo)準(zhǔn)配置：