紫外/可見 輻照度計
紫外/可見光（輻）照度計采用SMT貼片技術，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設計，探測器經過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強。儀器集紫外輻照度測量和照度測量兩種功能于一體，廣泛應用于光化學、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、以及大規(guī)模集成電路工業(yè)、農業(yè)、建筑、環(huán)境、科研等各個領域。

紫外/可見 輻照度計

產品概述

       紫外/可見光(輻)照度計采用SMT貼片技術，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設計，探測器經過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強。儀器集紫外輻照度測量和照度測量兩種功能于一體，廣泛應用于光化學、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、以及大規(guī)模集成電路工業(yè)、農業(yè)、建筑、環(huán)境、科研等各個領域。京海興樂科技（北京）有限公司提供儀器維修，產品計量，技術培訓，產品配件，儀器技術支持。

產品特點

   光譜及角度特性經嚴格校正
   數(shù)字液晶顯示，帶背光
   手動/自動量程切換
   數(shù)字輸出接口（USB,冗余供電）
   低電量提醒
   自動延時關機
   有數(shù)字保持
   輕觸按鍵操作，蜂鳴提示

	項目	參數(shù)	備注
照度	測量范圍	（0.1～199.9×103）lx
	相對示值誤差	<±4.0％
	V (λ)匹配誤差	<6.0％
	余弦特性誤差	<4.0％
	響應時間	<1秒
紫外	波長范圍及峰值波長λP	（315～400）nm，λP＝365nm
	輻照度測量范圍	（0.1～199.9×103） μW/cm2
	長波響應誤差	<15%
	相對示值誤差	<±8％（相對于NIM標準）
	非線性誤差	<±1.5％
	響應時間	<1秒
零值誤差（滿量程FS）		<滿量程的±1.0%
換檔誤差		<±1.0%
疲勞誤差		<3.0%
使用環(huán)境		溫度(0~40)℃；濕度＜85％RH
尺寸和重量		160mm×78mm×43mm；0.2kg
電源		6F22型9V積層電池（非充電電池）
整機功耗		＜0.1VA

序號	配件名稱	件數(shù)	備注
1	讀數(shù)顯示單元	1
2	探頭	1
3	探頭蓋	1
4	數(shù)據(jù)線	1
5	說明書	1
6	合格證/保修單	1
7	9V積層電池	1
8	儀器包裝箱	1