樣品臺作為一種常用的實驗檢測設備，常常需要對樣品進行加熱，現(xiàn)有的樣品臺在加熱時，往往是在底部加熱，或者采用水浴加熱，而這些加熱方式都是傳導加熱，熱量需要從邊沿向中間傳遞，這樣存在加熱不均勻，而為了解決加熱均勻性的問題，一般會在樣品臺上增設攪拌設備或者在底部做磁攪拌，增設機械攪拌在需要攪拌時需要調整攪拌槳的位置在攪拌完成后又需要挪走，操作麻煩。原位TEM力學加熱樣品臺可解決現(xiàn)有的樣品臺加熱設備加熱不均勻，操作不方便的問題。
原位TEM力學加熱樣品臺上的MEMS(微機電系統(tǒng))力學芯片可外接力學控制器，在透射電鏡內可動態(tài)實時觀察樣品材料微結構的變化。通過實時獲取的載荷、形變等數(shù)據(jù)，以及透射電子顯微鏡所提供的材料微結構變化數(shù)據(jù)，實現(xiàn)了定量分析材料的微觀力學性質、相變行為、取向變化、裂紋形成和擴展、材料疲勞和斷裂機制、加速蠕變、分層、形成滑移面以及脫落等現(xiàn)象。該原位力學系統(tǒng)穩(wěn)定性好，經(jīng)過科學設計，實現(xiàn)漂移率最小化。
7
立即詢價
您提交后，專屬客服將第一時間為您服務