測量波紋度粗糙度儀測針0102505——東京精密粗糙度儀
高穩(wěn)定雙光路型激光干涉?zhèn)鞲衅?/span>
●應(yīng)用東京精密的核心技術(shù)之一的光纖激光干涉測長系統(tǒng)，開發(fā)出分辨率0.31nm的高穩(wěn)定雙光路型激光干涉?zhèn)鞲衅鞑⒋钶d在產(chǎn)品上。
●動態(tài)量程與分辨率之比高達42,000,000 ：1，一次跟蹤即可評價大范圍的輪廓形狀及其隱藏在形狀下面的微細(xì)表面形狀，是一款劃時代的產(chǎn)品。
在驅(qū)動部搭載線性馬達
●憑借線性馬達驅(qū)動，實現(xiàn)了高精度·高速移動。
●電子低振動化穩(wěn)定，可以實現(xiàn)高倍率測定。
只需一次測量即可進行粗糙度和輪廓的分析
●可在保持高精度的同時提高測量效率。
大量程
●橫向200mm，縱向13mm，測量范圍大。
●可±45°自動控制驅(qū)動部傾斜（SURFCOM CREST-T型號）
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