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熱學(xué)綜合實(shí)驗(yàn)儀由控制箱和若干個功能組件構(gòu)成。
控制箱內(nèi)集成了溫度、壓強(qiáng)、電壓、電流測量顯示單元；高精度長時間計(jì)時單元；PID控制/手動控制單元；多組直流電源單元；四路傳感器接口單元等部件，可滿足常用熱學(xué)實(shí)驗(yàn)的測量與控制需求。
功能組件針對某個或數(shù)個實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)成獨(dú)立組件。根據(jù)教學(xué)安排，可以很方便地變更實(shí)驗(yàn)內(nèi)容或添加功能組件。
實(shí)驗(yàn)內(nèi)容：
非金屬材料的導(dǎo)熱系數(shù)測量實(shí)驗(yàn)；
金屬材料的導(dǎo)熱系數(shù)測量實(shí)驗(yàn)；
金屬材料的比熱容測量實(shí)驗(yàn)；
空氣導(dǎo)熱系數(shù)測量實(shí)驗(yàn)；
金屬材料膨脹系數(shù)測量實(shí)驗(yàn)。

JCPH4A綜合光電效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀組合式，可以不斷擴(kuò)充實(shí)驗(yàn)內(nèi)容；光電流放大器采用高檔運(yùn)放及特殊電路設(shè)計(jì)，穩(wěn)定可靠。
實(shí)驗(yàn)內(nèi)容：
普朗克常數(shù)測定（零電流法,補(bǔ)償法、拐點(diǎn)法）。
太陽能電池（硅光電池）基本特性測量。
光電二極管基本特性測量。
光敏電阻基本特性測量。

：JCP8A布朗運(yùn)動法納米顆粒測量儀

強(qiáng)調(diào)物理內(nèi)涵與前沿技術(shù)緊密結(jié)合
強(qiáng)調(diào)可視化
同時觀測多顆粒子，給出粒徑分布圖。
強(qiáng)調(diào)綜合實(shí)驗(yàn)?zāi)芰ε囵B(yǎng)
實(shí)驗(yàn)內(nèi)容：
顆粒樣品制備（濃度配比）
觀察、描繪布朗運(yùn)動軌跡
測量已知標(biāo)準(zhǔn)樣品粒徑（60nm），作出粒徑分布
測量未知納米樣品粒徑(如由HT-218制備的納米顆粒），作出粒徑分布
技術(shù)指標(biāo)：
測量范圍：30-1000nm 平均相對誤差：＜5%