MDPlinescan在線少子壽命測(cè)試儀 參考價(jià)：1000000
MDPlinescan在線少子壽命測(cè)試儀靈活的OEM少子壽命測(cè)試儀器，用于各種不同樣品的少子壽命測(cè)量，從單晶硅磚到多晶硅磚，從生長(zhǎng)的硅片到不同層或金屬化的硅片的...
Ingot XRD - 晶錠X射線定向儀 參考價(jià)：面議
Ingot XRD - 晶錠X射線定向儀有著*的XRD系統(tǒng)，用于單晶晶錠的自動(dòng)定向、傾斜和對(duì)準(zhǔn)研磨。SiC | Si| AlN | GaAs | Quartz ...
Omega/Theta XRD- 定制的樣品架 參考價(jià)：面議
Omega/Theta XRD- 定制的樣品架用于微小圓柱體、大型晶鑄或立方體晶體定向的夾具
Omega/Theta XRD- 搖擺曲線測(cè)量 參考價(jià)：面議
Omega/Theta XRD- 搖擺曲線測(cè)量意味著在Theta-scan模式下進(jìn)行測(cè)量，這需要一個(gè)測(cè)角儀。一個(gè)雙晶體被帶入主光束路徑，以減少光譜寬度和發(fā)散度。...
Theta XRD晶錠粘接轉(zhuǎn)移技術(shù) 參考價(jià)：面議
Theta XRD晶錠粘接轉(zhuǎn)移技術(shù)（堆垛 stacking），晶體（如SiC的晶錠）。這些需要在線切過程之前進(jìn)行定向?qū)?zhǔn)。Freiberg儀器公司提供了一個(gè)方便...
Omega/Theta XRD Mapping面掃功能 參考價(jià)：面議
Omega/Theta XRD Mapping面掃功能掃臺(tái)允許使用受控的網(wǎng)格模式來探索整個(gè)樣品表面。Omega/Theta XRD可以很容易地在轉(zhuǎn)盤頂部容納額外...
少子壽命測(cè)試儀|束蘊(yùn)儀器 參考價(jià)：1000000
MDPspot少子壽命測(cè)試儀低成本桌面單點(diǎn)測(cè)量硅片或晶磚，用于在不同制備階段表征各種不同的硅樣品，無需內(nèi)置自動(dòng)化?？蛇x手動(dòng)操作的z軸厚度高達(dá)156毫米的硅磚樣品...
PID操作軟件 參考價(jià)：面議
PID操作軟件PIDStudio是一個(gè)很*的軟件，它非常容易操作和直觀，因?yàn)樗鶕?jù)我們用戶的反饋持續(xù)更新和改進(jìn)。
便攜式現(xiàn)場(chǎng)PID測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
便攜式現(xiàn)場(chǎng)PID測(cè)試儀（電位誘發(fā)衰減）測(cè)試儀，適用于不同類型和尺寸的晶體硅組件，無需拆裝，測(cè)試時(shí)間在8小時(shí)之內(nèi)（測(cè)量時(shí)間將少于8小時(shí)）。PIDcheck是與德國(guó)...
臺(tái)式雙面電池PID測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
臺(tái)式雙面電池PID測(cè)試儀用于單面及雙面電池，HIT、Topcon、PERC/PERC+太陽能電池、晶體硅太陽能電池、微型模塊等的質(zhì)量控制Freiberg公司與德...
三維X射線顯微鏡 （XRM）SKYSCAN 2214 參考價(jià)：面議
三維X射線顯微鏡 （XRM）SKYSCAN 2214 CMOS版是Bruker新推出的一代全新納米級(jí)三維X射線顯微鏡（XRM），除了保留上一代SKYSCAN22...
無液氦稀釋制冷機(jī) Triton 500測(cè)樣 參考價(jià)：面議
1. 系統(tǒng)背底低溫能達(dá)到10mK，樣品低溫能達(dá)到13mK；2. 系統(tǒng)制冷功率：20 mK時(shí)制冷功率大于 12 μW；100mK時(shí)制冷功率大于450 μW；3. ...
X射線衍射儀高分辨透射及PDF散射系統(tǒng)檢測(cè) 參考價(jià)：面議
1） 6KW高強(qiáng)度Cu轉(zhuǎn)靶光源2） 垂直q/qATLAS測(cè)角儀Ultra compact design3） Eiger2 R 500k二維探測(cè)器4） 液氦低溫系...
高分辨薄膜X射線衍射儀 參考價(jià)：面議
原位高低溫附件可以在材料合成過程中來觀察材料結(jié)構(gòu)變化，探索材料合成條件；也可以用來探測(cè)充放電到某個(gè)電位下材料隨溫度變換而產(chǎn)生的相應(yīng)的結(jié)構(gòu)變化，這對(duì)探討實(shí)際電池安...
原位X射線衍射儀檢測(cè) 參考價(jià)：面議
原位高低溫附件可以在材料合成過程中來觀察材料結(jié)構(gòu)變化，探索材料合成條件；也可以用來探測(cè)充放電到某個(gè)電位下材料隨溫度變換而產(chǎn)生的相應(yīng)的結(jié)構(gòu)變化，這對(duì)探討實(shí)際電池安...
雙微焦斑單晶X射線衍射儀檢測(cè) 參考價(jià)：面議
布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀，采用創(chuàng)造性的達(dá)芬奇設(shè)計(jì)，通過TWIN-TWIN光路設(shè)計(jì)，成功實(shí)現(xiàn)了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光...
多晶X射線衍射儀檢測(cè) 參考價(jià)：面議
布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀，采用創(chuàng)造性的達(dá)芬奇設(shè)計(jì)，通過TWIN-TWIN光路設(shè)計(jì)，成功實(shí)現(xiàn)了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光...
環(huán)境控制原子力顯微鏡檢測(cè) 參考價(jià)：面議
適用于電化學(xué)原子力顯微鏡功能的牛津儀器Asylum Research 電化學(xué)單元：牛津儀器Asylum Research全密封電化學(xué)單元套件包含獨(dú)立設(shè)計(jì)的探針固...
場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM檢測(cè) 參考價(jià)：面議
蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM系列，具有出色的分辨率，能夠輕松實(shí)現(xiàn)亞納米分辨成像以及高探測(cè)效率，適用于包括磁性材料的多種材料的高分辨成像與分析。無論是在高...
熒光光譜儀 參考價(jià)：面議
HORIBA Scientific提供的研究級(jí)熒光壽命光譜儀有模塊化或緊湊型設(shè)計(jì)，可按應(yīng)用需求定制光譜儀。Fluorocube熒光光譜儀將新的迷你化光源和檢測(cè)技...
超快時(shí)間分辨熒光光譜儀 參考價(jià)：面議
超快時(shí)間分辨熒光光譜儀結(jié)合*的超高時(shí)間分辨率 TCSPC電子系統(tǒng)（＜400fs/pt），并配合多種即插即用的高頻脈沖光源和高度集成化的檢測(cè)器技術(shù)，整機(jī)配置靈活，...
多功能真空紫外熒光光譜儀 參考價(jià)：面議
HORIBA Scientific多功能真空紫外熒光光譜儀基于模塊化設(shè)計(jì)思路，熒光激發(fā)部分、樣品室和熒光探測(cè)部分均可以提供靈活的解決方案，很大程度拓展系統(tǒng)的功能...
模塊化熒光光譜儀 參考價(jià)：面議
PTI QuantaMaster 8000模塊化熒光光譜儀配置全新高通量三光柵塔輪單色儀，輕松實(shí)現(xiàn)寬光譜范圍測(cè)量；配置雙入口和雙出口，輕松實(shí)現(xiàn)不同光源和檢測(cè)器間...
科研級(jí)熒光光譜儀 參考價(jià)：面議
美國(guó)HORIBA Instruments Incorporated公司生產(chǎn)的Fluorolog-3科研級(jí)熒光光譜儀采用模塊化設(shè)計(jì)，即可實(shí)現(xiàn)穩(wěn)態(tài)測(cè)量，也可實(shí)現(xiàn)瞬態(tài)...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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