布朗運(yùn)動(dòng)法納米顆粒測(cè)量?jī)x顆粒樣品制備(濃度配比)
強(qiáng)調(diào)物理內(nèi)涵與前沿技術(shù)緊密結(jié)合
強(qiáng)調(diào)可視化
同時(shí)觀測(cè)多顆粒子,給出粒徑分布圖。
強(qiáng)調(diào)綜合實(shí)驗(yàn)?zāi)芰ε囵B(yǎng)
實(shí)驗(yàn)內(nèi)容:
顆粒樣品制備(濃度配比)
觀察、描繪布朗運(yùn)動(dòng)軌跡
測(cè)量已知標(biāo)準(zhǔn)樣品粒徑(60nm),作出粒徑分布
測(cè)量未知納米樣品粒徑(如由HT-218制備的納米顆粒),作出粒徑分布
技術(shù)指標(biāo):
測(cè)量范圍:30-1000nm 平均相對(duì)誤差:<5%
JCSMP固體數(shù)字熔點(diǎn)儀
固體數(shù)字熔點(diǎn)儀用于觀察和測(cè)量固體材料的熔化特性,進(jìn)而分析判斷單質(zhì)材料的類(lèi)型和分析判斷二組分體系熔解特性并獲取該組分體系的相圖。
儀器特點(diǎn):
材料樣品爐真空透明,目視熔化過(guò)程,無(wú)煙霧等有害氣體產(chǎn)生;
有完善的多級(jí)控溫裝置,安全可靠;
樣品爐爐溫升、降過(guò)程直接采用數(shù)字溫度表顯示,直觀明了;
計(jì)時(shí)器提示音有三檔可選
光電效應(yīng)普朗克常數(shù)實(shí)驗(yàn)儀
光電效應(yīng)普朗克常數(shù)實(shí)驗(yàn)儀采用高檔集成運(yùn)放及特殊電路設(shè)計(jì),高性能光電管,撥盤(pán)是濾光片結(jié)構(gòu),設(shè)計(jì)新穎,功能完備。光電管靈敏度≥1mA/Lm,暗電流≤10A;零飄≤0.2%(滿(mǎn)度讀數(shù),10A檔,預(yù)熱20分種后,正常環(huán)境下30分鐘內(nèi)測(cè)得);3位半LED顯示,電流*小顯示10A,電壓*小顯示1mV,所以可以采用“零電流法"或“補(bǔ)償法"精確測(cè)出截止電壓