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相位差、雙折射、內(nèi)應(yīng)力測量設(shè)備

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           北京歐屹科技代理的日本PHL公司的雙折射測量設(shè)備，是由日本東北大學(xué)電器研究室與井上研究室共同開發(fā)的光子晶體技術(shù)，進(jìn)而轉(zhuǎn)化出來的對透明鍵產(chǎn)品內(nèi)部應(yīng)力測量的一款設(shè)備，利用光子晶體與CCD相機(jī)的結(jié)合，產(chǎn)生的偏光感應(yīng)器，可以在3秒的時間得到被測樣品整個面的內(nèi)部應(yīng)力的分布的情況。

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