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E+H超聲波物位計(jì)對(duì)介質(zhì)環(huán)境及測(cè)量的影響
閱讀：722 發(fā)布時(shí)間：2018-3-15
E+H超聲波物位計(jì)
廣泛用于各行業(yè)中液體，氣體和蒸汽的體積流量測(cè)量。如過(guò)熱蒸汽，飽和蒸汽，壓縮空氣，氮?dú)?，液化氣，廢氣，二氧化碳，軟化水，溶劑，鍋爐供水，冷凝物等等。蒸汽系統(tǒng)的質(zhì)量或熱量運(yùn)算可以通過(guò)渦街流量計(jì)配壓力測(cè)量、溫度測(cè)量以及計(jì)算儀構(gòu)成的能量測(cè)量系統(tǒng)準(zhǔn)確測(cè)量，有效節(jié)能，減少成本。
E+H超聲波物位計(jì)的影響
(1)介質(zhì)及環(huán)境溫度的影響
超聲波從物料表面反射時(shí)，其反射頻率會(huì)受到物料溫度的影響而發(fā)生變化，為了補(bǔ)償這一變化，超聲波探頭內(nèi)裝有溫度傳感器，當(dāng)探頭向處理器發(fā)送反射信號(hào)的同時(shí)，也把溫度信號(hào)送到微處理器，處理器將自動(dòng)補(bǔ)償由于溫度對(duì)料位測(cè)量的影響。
此外，為了保證探頭的可靠工作，要求環(huán)境溫度不超過(guò)60℃。
(2)攪拌器對(duì)E+H超聲波物位計(jì)測(cè)量的影響
如果物料容器內(nèi)裝攪拌器，它同樣會(huì)反射超聲波信號(hào)，造成假反射回波，并被傳送到微處理器。微處理器將根據(jù)統(tǒng)計(jì)學(xué)原理處理真假面具回波，所以要求超聲波從物料表面反射的回波應(yīng)至少為從攪拌器臂反射的回波的3倍。適當(dāng)降低攪拌器的轉(zhuǎn)速，或?qū)⑻筋^偏離攪拌中心，都可以有效消除攪拌器產(chǎn)生的假面反射對(duì)料位測(cè)量的影響。