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天星渦流測厚儀ED400
天星渦流測厚儀ED400（也稱涂層測厚儀、氧化膜測厚儀）適用于測量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽極氧化膜或涂層厚度，還可用于測量其它鋁材料、鋁工件表面的陽極氧化膜或涂層厚度，以及其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度，測量塑料薄膜及紙張厚度。渦流測厚儀ED400采用磁性測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體（如：鋼、鐵、鎳）上非磁性覆層的厚度（如：鍍鋅、鉻、油漆、電泳、琺瑯、橡膠、粉未、搪瓷、防腐層等），本儀器能廣泛地應用在制造、金屬加工、化工、商檢等檢測領域。
技術參數：
測量范圍： 0～500μm
測量精度： 0～50μm：±1μm；
50～500μm：±2%
分辨率： 0～50μm：0.1μm、
50～500μm：1μm；
0～500μm：1μm（可選）
使用溫度： 5～45℃
外形尺寸： 150mm×80mm×30mm
重 量： 260g
渦流測厚儀ED400配置與選配：
標準配置 主機 1臺 | 可選附件 備用探頭 |
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