X射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀，采用手動(dòng)方式，測(cè)量和分析印刷電路板、防護(hù)及裝飾性鍍層及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層。德國菲希爾X射線膜厚儀FISCHERSCOPE® X-RAY XDL 210/220/230//240

X射線鍍層測(cè)厚儀簡介：

德國菲希爾X射線測(cè)厚儀FISCHERSCOPE® X-RAY XDL 210/220/230/240是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀。它非常適用于無損測(cè)量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時(shí)還能檢測(cè)大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。

德國菲希爾X射線測(cè)厚儀FISCHERSCOPE® X-RAY XDL210/220/230/240特別適用于客戶進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。

德國菲希爾X射線測(cè)厚儀FISCHERSCOPE® X-RAY XDL 210/220/230/240典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：

• 測(cè)量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件

• 測(cè)量超薄鍍層，例如：裝飾鉻

• 測(cè)量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層

• 測(cè)量印刷線路板

• 分析電鍍?nèi)芤?/p>